[发明专利]可降低噪声干扰的测试端口处理方法

说明书

技术领域

本发明有关一种测试端口处理方法，尤指一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法。

背景技术

在科技技术不断地提升下，许多通信装置相继地被开发出来。为了使通信装置具有优良的收发性能及通话质量，研发人员会为通信装置量身设计一根匹配的天线，以供该通信装置使用。或者，在通信装置内部增设防电磁波干扰结构，以提升通信装置的接收灵敏度及通话质量。

但是，即使有良好的天线及防电磁波干扰结构设计，通信装置的接收灵敏度及通话质量也不一定可以确保。请参阅图1、图2所示，通信装置所使用的电路主机板10在开发过程中，会在主机板10上预留由两个或两个以上接脚102所组成的第一端子组101。主机板10在进行检测时，在两个或两个以上的接脚102上串联有包含两个或两个以上零欧姆电阻的零欧姆电阻单元103，利用该两个或两个以上零欧姆电阻来连接测试端口20的第二端子组201，以进行主机板10的检测或软件刻录。

一旦在信号检测或软件刻录完成后，该零欧姆电阻单元103被移除，使测试端口20的第二端子组201预留在主机板10上。但在使用该通信装置时，易产生辐射噪声；为了避免辐射噪声，电路板布局有相当大的限制，也造成电路板布局的难度。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的，在于提供一种可以阻断信号源，并减少噪声产生，同时能正常进行数字信号接收，使得电路主机板在布局上更有灵活性的可降低噪声干扰的测试端口处理方法。

为达到上述的目的，本发明提供一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法，应用于检测或软件刻录的待测组件上，该方法包括：

提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口；

将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联，该零欧姆电阻单元的第二端与所述测试端口电性连接；

在检测或软件刻录后，将该零欧姆电阻单元的第一端与所述待测系统断开，呈断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地，阻断信号源产生。

由上述方案可知，本发明通过在检测或软件刻录完毕后，将该零欧姆电阻单元的第一端与待测系统呈断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地以阻断信号源，减少噪声产生，并不影响数字信号接收，使得电路主机板在布局上更有灵活性。如果该待测系统为电子通信产品，则可以提升通信装置的接收灵敏度及通话质量。

附图说明

图1为传统电路主机板在检测时的连接示意图；

图2为图1的主机板在检测后的连接示意图；

图3为本发明中待测系统在检测或软件刻录时的连接示意图；

图4为本发明中待测系统在检测或软件刻录完成后的连接示意图。

附图标记说明

主机板 10               第一端子组 101         接脚       102

零欧姆电阻单元 103      测试端口   20          第二端子组  201

待测系统 1              第一端子组 11          第一接脚    111

第二接脚 112            第三接脚   113         第四接脚   114

第五接脚 115            第六接脚   116

零欧姆电阻单元 2        第一电阻   21          第二电阻   22

第三电阻 23             第四电阻 24           第五电阻 25

第六电阻 26             测试端口 3            第二端子组 31

第一接脚 311            第二接脚 312          第三接脚 313

第四接脚 314            第五接脚 315          第六接脚 316

具体实施方式

有关本发明的技术内容及详细说明，现配合附图说明如下：