[发明专利]可降低噪声干扰的测试端口处理方法无效
| 申请号： | 200810001109.1 | 申请日： | 2008-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN101488999A | 公开（公告）日： | 2009-07-22 |
| 发明（设计）人： | 陈怡蓁;林建荣;何建勋 | 申请（专利权）人： | 诚实科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04M3/22 | 分类号： | H04M3/22;H04M1/74 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张颖玲;张 瑾 |
| 地址： | 台湾省桃园*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 降低 噪声 干扰 测试 端口 处理 方法 | ||
1、一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法，应用于检测或软件刻录的待测组件上，其特征在于，该方法包括：
提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口；
将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联，该零欧姆电阻单元的第二端与所述测试端口电性连接；
在检测或软件刻录后，将该零欧姆电阻单元的第一端与所述待测系统断开，呈断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地，阻断信号源产生。
2、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述待测系统为芯片。
3、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述待测系统为电子设备。
4、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述方法还包含：
提供与所述待测系统电性连接的第一端子组，该第一端子组由两个或两个以上的接脚组成，该接脚与所述零欧姆电阻单元的第一端电性连接。
5、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述零欧姆电阻单元由两个或两个以上的零欧姆电阻组成。
6、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述方法还包含：
提供与所述测试端口电性连接的第二端子组，该第二端子组由两个或两个以上的接脚组成，并与该零欧姆电阻单元的第二端电性连接。
7、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述测试端口为连接器。
8、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述测试端口为信号接点。
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