[发明专利]闪速存储器及相关方法有效

专利信息
申请号: 200780048999.5 申请日: 2007-12-21
公开(公告)号: CN101573762A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: D·埃尔姆赫尔斯特;G·桑廷;M·因卡纳蒂;V·莫夏诺;E·多里奥 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G11C16/02 分类号: G11C16/02;G11C16/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 朱海煜;徐予红
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 存储器 相关 方法
【权利要求书】:

1.一种用于在闪速存储器装置中读取和写入数据的方法,包括:

对闪速存储器单元编程;

将字线电压施加到所述闪速存储器单元;

在多个时间间隔上感测所述闪速存储器单元的状态,以便生成指 明所述闪速存储器单元的状态的多个数据,包括:

在第一时间将耦合到所述闪速存储器单元的位线与感测电 容耦合,以便生成第一数据;

在第一时间将第一脉冲施加到耦合在所述位线和所述感测 电容之间的偏压晶体管;

在第二时间将所述位线与所述感测电容耦合,以便生成第二 数据;

在第二时间将第二脉冲施加到所述偏压晶体管;以及

将读取电压施加到所述闪速存储器单元;

在第三时间将第三脉冲施加到所述偏压晶体管;

在第四时间将第四脉冲施加到所述偏压晶体管,所述第三脉 冲和所述第四脉冲分别具有与所述第一脉冲和所述第二脉冲相同的 时长并且以相同的时间间隔发生,使得所述位线在所述闪速存储器单 元的编程被检验时并且在所述闪速单元被读取时以相同的时间间隔 与所述感测电容耦合;以及

在所述第四时间之后锁存来自所述感测电容的数据,以便读 取所述闪速存储器单元的状态。

2.如权利要求1所述的方法,其中,感测所述闪速存储器单元 的状态的步骤包括:

在第一时间间隔上感测与所述闪速存储器单元耦合的位线上的 第一电压;以及

在第二时间间隔上感测所述位线上的第二电压。

3.如权利要求2所述的方法,还包括:

将所述第一电压与基准电压进行比较,以便生成第一数据;

将所述第二电压与所述基准电压进行比较,以便生成第二数据; 以及

将所述第二数据存储在第一锁存器中,并且将所述第一数据存储 在第二锁存器中。

4.如权利要求3所述的方法,其中:

将所述第一电压与基准电压进行比较的步骤包括通过锁存晶体 管把来自感测电容的所述第一电压施加到第一锁存电路中的反相器 的输入端,以便将所述第一电压与所述反相器的阈值电压进行比较;

将所述第二电压与所述基准电压进行比较的步骤包括通过所述 锁存晶体管把来自所述感测电容的所述第二电压施加到所述第一锁 存电路中的所述反相器的输入端,以便将所述第二电压与所述反相器 的阈值电压进行比较;以及

存储所述第二数据的步骤包括:

将所述第二数据存储在所述第一锁存电路中,所述第一锁存电路 包括一对反相器,各反相器的输出端与另一个反相器的输入端耦合, 以便保持所述第二数据;以及

将所述第一数据存储在所述第二锁存电路中,所述第二锁存电路 包括一对反相器,各反相器的输出端与另一个反相器的输入端耦合, 以便保持所述第一数据。

5.如权利要求1所述的方法,其中,感测所述闪速存储器单元 的状态的步骤包括在多个时间间隔上选通与所述闪速存储器单元耦 合的位线,以便生成指明所述闪速存储器单元的状态的多个数据。

6.如权利要求1所述的方法,还包括:

在所述第一时间将预编程序检验电压施加到所述闪速存储器单 元的栅极;以及

在所述第二时间将程序检验电压施加到所述闪速存储器单元的 栅极,所述程序检验电压大于所述预编程序检验电压,以便在编程脉 冲已经施加到所述闪速存储器单元的栅极之后检验所述闪速存储器 单元的状态。

7.如权利要求1所述的方法,其中,对闪速存储器单元编程的 步骤包括将保持四个或更多阈值电压其中之一的多态闪速存储器单 元编程为擦除状态或者编程为三个或更多阈值电压其中之一。

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