[发明专利]光学设备用检查装置有效

专利信息
申请号: 200780042080.5 申请日: 2007-11-09
公开(公告)号: CN101583860A 公开(公告)日: 2009-11-18
发明(设计)人: 大泽茂巳;小室一真 申请(专利权)人: 日本电子材料株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01R1/073;H01L21/66
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 黄 挺
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 备用 检查 装置
【权利要求书】:

1.一种光学设备用检查装置,配备有探卡单元与透镜单元,其特征在于,

所述探卡单元配备有主基板、导向板和探头,

所述主基板和所述导向板上设置有开口部,

所述导向板被固定于所述主基板的特定位置,并垂直地设置有数个探头插入孔,

所述探头插入所述导向板的探头插入孔中并被固定,所述探头包括有插入部及顶端部,所述插入部被插入设置于所述导向板的探头插入孔中而被固定,从所述探头插入孔突出有所述顶端部,所述插入部采取垂直型探头的形状,所述顶端部具有在从所述导向板突出的部分处弯曲,且向所述导向板的开口部方向延伸的悬臂形状,所述顶端部被设置于远离所述导向板的开口部边缘的位置处;

且所述透镜单元是使用瞳孔透镜的透镜单元,被设置于所述主基板上的开口部,随着从光学系统的中心远离而使照向被检对象的光倾斜。

2.如权利要求1所述的光学设备用检查装置,其特征在于,在所述导向板上设置槽部,在所述槽部的底部配置所述探头插入孔,并在所述槽部通过树脂固定所述探头。

3.如权利要求1或2所述的光学设备用检查装置,其特征在于,具有遮断从所述透镜单元照向所述探头的光线的光遮断部件。

4.如权利要求3所述的光学设备用检查装置,其特征在于,所述光遮断部件是所述导向板。

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