[发明专利]电子电路装置以及制造该装置的方法无效
申请号: | 200780028832.2 | 申请日: | 2007-07-31 |
公开(公告)号: | CN101501573A | 公开(公告)日: | 2009-08-05 |
发明(设计)人: | 佐藤了平;中川浩司;森永英二;臼井玲大;田中健治;高木悟;江田研一;坂本宽 | 申请(专利权)人: | 旭硝子株式会社 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F7/26;H01J9/02;H01J11/02;H01L21/027 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 郇春艳;樊卫民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子电路 装置 以及 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种设置有电路图案的基板以及一种制造该基板的方 法。
背景技术
在基板上用金属或绝缘材料的薄膜制成的电路图案,迄今已用在 用于计算机、通信、信息家用电器、各种显示装置等的各种电子电路 中。此外,为了使其与快速发展和进步的信息社会相适应,需要更高 的集成(实现高清晰度)。
为了制造这类电路图案,已普遍采用了使用光刻蚀刻工艺的方法。 该方法典型的加工步骤如图10~11所示。如图10~11所示,该方法是 这样的方法:其中在基板的至少部分表面形成用于形成电路图案的薄 膜后,涂覆并干燥抗蚀剂以形成抗蚀层。接着,经由掩模通过使该抗 蚀层曝光并使其显影,形成与电路图案相反的图案(逆电路图案)。 其后,通过蚀刻和除去抗蚀层,形成所需的电路图案。从大规模生产 的观点看,该方法是优良的,因为图案形成的精度良好,同样的图案 可反复复制,并且在相同的基板上可形成多个电子电路。
然而,如图10-11所示,使用光刻蚀刻工艺的这类方法是通过重 复许多步骤实现电子电路的电路图案的方法。根据图10~11所示的方 法,在基板50上形成薄膜层51(图10(b))后,形成抗蚀层52(图10(c)); 进行曝光、显影处理、蚀刻和抗蚀层52的剥离(图lO(d)~10(e)和图 11(a));此外,在形成绝缘层53(图11(b))后,进行抗蚀层54的形 成、曝光、显影处理、蚀刻和抗蚀层54的剥离(图11(c)~11(e))。
即,在这种方法中,每次当形成包含薄膜层和绝缘层的电路图案 时,都需要多达22个步骤的大量步骤,其包括膜形成、抗蚀剂涂覆、 干燥、曝光、显影、蚀刻、抗蚀层剥离等。因此,存在生产成本非常 高的问题。此外,在这种方法中,每次当进行上述多个步骤时,都会 使用大量的显影液、诸如蚀刻剂等的化学溶液以及洗涤液。这不仅涉 及产率低和生产成本非常高的问题,而且涉及诸如废液处理的环境负 荷(这方面是现今关注的重要事情)非常大的问题。
接着,已提出了剥离方法,其与上述光刻蚀刻工艺相比具有少量 步骤并且产生低的环境负荷(参见例如专利文件1~7)。
通常,剥离方法是这样的方法:其中通过基板上的抗蚀层形成逆 电路图案;薄膜层在基板表面上形成;以及随后,剥离抗蚀层,从而 在抗蚀层开口中通过薄膜层形成电路图案。图12~13示例了通过进行 抗蚀层的曝光、显影等形成抗蚀层的逆电路图案的步骤;以及示例了 在所谓的湿条件下进行的湿剥离方法。
在如图12~13所示的方法中,在基板61上形成抗蚀层62(图 12(b));以及抗蚀层图案通过曝光和显影而形成(图12(c)~12(d))。 其后,在形成薄膜层63之后,剥离多余的抗蚀层62和薄膜层63(图 12(e)和图13(a))。此外,再次在基板61上形成抗蚀层64,抗蚀层图 案通过曝光和显影而形成,并且形成绝缘层65(图13(b)~13(c));以 及其后,剥离多余的抗蚀层64和绝缘层65(图13(d))。
接着,在这种剥离方法中,为了形成所需高精度的精细图案,在 抗蚀层中形成的开口的截面形状是重要的。提出了下述方法:形成其 中截面形状被制成尤其是倒锥形、悬垂形、双层层压类型或T形类型 的图案(参见专利文件8~12)。
专利文件1:日本专利No.2989064
专利文件2:日本专利No.3028094
专利文件3:JP-A-7-168368
专利文件4:JP-A-8-315981
专利文件5:JP-A-11-317418
专利文件6:JP-A-2002-134004
专利文件7:JP-A-11-339574
专利文件8:JP-A-56-81954
专利文件9:JP-A-1-236658
专利文件10:JP-A-7-29846
专利文件11:JP-A-2003-287905
专利文件12:JP-A-9-211868
发明内容
本发明要解决的问题
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