[发明专利]测量电源的参数的设备

权利要求书

1.一种用于测量参数的设备(10)，该设备包含数据获取和处理链路(12)， 该链路(12)包括：

-第一部件(14)，用于获取由电源电势(VA)与高于该供电电势(VA) 的电势(VB)之间的差所定义的电压提供的第一参数，该第一部件(14)用 于调节与所述数据对应的电压信号，已知其为电源处的信号，该第一部件(14) 以供电电势(VA)作为参考，该第一参数是在连接到供电电势(VA)的电路 中(20)流动的、且由连接到所述电路(20)的分路器(22)提供的电流的 强度(I)，

-第二部件(24)，用于获取由连接到所述供电电势(VA)的分压桥(28) 提供的第二参数，

其特征在于，所述第二获取部件(24)由地电势(VM)与中间电势(VC) 之间的差所定义的电压来供电，所述地电势低于所述供电电势(VA)，所述 中间电势(VC)在所述地电势(VM)与所述供电电势(VA)之间，并且所 述第二获取部件(24)用来调节与所述数据对应的、称为地处的信号的电压 信号，且该第二获取部件(24)以所述地电势(VM)作为参考。

2.根据权利要求1所述的用于测量参数的设备(10)，其中，所述第二 参数是由所述供电电势(VA)与所述地电势(VM)之间的差所定义的电压 (U)，该电压(U)被分压桥(28)提供给所述第二获取部件(24)。

3.根据权利要求1所述的用于测量参数的设备(10)，其中，所述第二 参数是由所述分压桥提供给所述第二获取部件(24)的温度，所述分压桥包 括至少一个热敏电阻器。

4.根据权利要求1至3中的任何一个所述的用于测量参数的设备(10)， 其中，所述链路(12)还包括用于处理至少所述第一参数、由所述地电势(VM) 与所述中间电势(VC)之间的差所定义的电压供电的部件(30)。

5.根据权利要求1所述的用于测量参数的设备(10)，其中，所述链路 包括用于与该链路(12)外部的电子设备通信的部件(32)，该通信部件(32) 由所述地电势(VM)与所述中间电势(VC)之间的差所定义的电压来供电。

6.根据权利要求1所述的用于测量参数的设备(10)，其中，所述链路 (12)包括用于将所获取的强度(I)与预定强度阈值进行比较、由所述供电 电势(VA)与高于该供电电势(VA)的电势(VB)之间的差所定义的电压 来供电的部件(36)，所述比较部件(36)取决于所获取的强度(I)在阈值 以上/以下，而用来调节电压信号以激活/去激活由所述地电势(VM)与所述 中间电势(VC)之间的差所定义的电压供电的、链路(12)的至少一个部件， 该电压信号以所述供电电势(VA)为参考。

7.根据权利要求1个所述的用于测量参数的设备(10)，其中，所述链 路(12)还包括适配部件(38)，以下述方式将所述链路(12)的第一组部件 (E1)和所述链路(12)的第二组部件(E2)连接，以使得将电源处的信号 的参考电势适配到地处的信号的参考电势并且反之亦然，其中所述链路(12) 的第一组部件(E1)包括至少第一获取部件(14)，由所述供电电势(VA) 与大于该供电电势(VA)的电势(VB)之间的差所定义的电压来对该第一组 (E1)的每个部件供电，并且所述链路(12)的第二组部件(E2)包括至少 第二获取部件(24)，由所述地电势(VM)与所述中间电势(VC)之间的差 所定义的电压来对该第二组(E2)的每个部件供电。

8.根据权利要求7所述的用于测量参数的设备(10)，包括半导体芯片 (P)，其被布置为所述链路(12)的第一组部件(E1)和第二组部件(E2)。

9.根据权利要求7所述的用于测量参数的设备(10)，包括第一半导体 芯片(P1)和第二半导体芯片(P2)，在所述第一半导体芯片(P1)和第二半 导体芯片(P2)中分别分布所述链路(12)的第一组部件(E1)和第二组部 件(E2)。