[发明专利]全反射衰减型光学探针和使用该全反射衰减型光学探针的水溶液分光测定装置无效

专利信息
申请号: 200780009223.2 申请日: 2007-03-08
公开(公告)号: CN101400987A 公开(公告)日: 2009-04-01
发明(设计)人: 东升;尾崎幸洋;池羽田晶文 申请(专利权)人: 仓敷纺绩株式会社
主分类号: G01N21/33 分类号: G01N21/33;G01N21/27
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 闫小龙;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 全反射 衰减 光学 探针 使用 水溶液 分光 测定 装置
【权利要求书】:

1.一种全反射衰减型光学探针,其特征在于,

包括:第一部分,其是在远紫外区具有光透射性的第一光学材质,具有比样品物质即测定介质的折射率低的折射率;第二部分,具有与所述第一部分接触的界面和与样品物质接触的平面,由在远紫外区具有比所述第一部分低的光透射率和比所述样品物质即测定介质的折射率高的折射率的第二光学材料构成,

所述第二部分具有在测定波长具有至少10%以上的内部透射率的厚度,

所述第一部分和第二部分之间的所述界面具有如下形状:从第一部分透射的光线进入所述第二部分,并能够以临界角以上的入射角入射到所述第二部分的所述平面。

2.如权利要求1的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

所述第二部分的所述平面和所述界面相互垂直。

3.如权利要求2的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

该全反射衰减型光学探针还具有由在远紫外区具有光透射特性的第三材料构成的第三部分,所述第二部分位于所述第一部分和所述第三部分之间。

4.如权利要求1的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

所述界面是半圆状。

5.如权利要求1的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

所述界面具有透射入射到所述平面的光的入射面和透射在所述平面反射的光的出射面。

6.如权利要求1的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

所述第二部分具有等腰三角形的剖面,以所述等腰三角形的底边成为与所述第一部分的界面的方式与所述第一部分接触,所述等腰三角形的两个等边与所述样品物质接触。

7.如权利要求1~6中任一项的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

所述第一光学材料是氟化镁、氟化锂和氟化钙中的任一种,所述第二光学材料是合成石英、水晶、蓝宝石、硒化锌以及金刚石中的任一种。

8.如权利要求1~6中任一项的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

所述第一部分的光入射出射的面以及所述第一部分和所述第二部分之间的界面中的至少一个面具有抗反射涂层。

9.如权利要求1~6中任一项的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

还在所述光学探针的与样品物质接触的面具有比测定波长充分薄的厚度的涂层。

10.如权利要求7的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

所述第一部分的光入射出射的面以及所述第一部分和所述第二部分之间的界面中的至少一个面具有抗反射涂层。

11.一种全反射衰减型光学探针,由在远紫外区具有光透射性的光学材料构成,折射率至少在一部分连续地变化,其特征在于,

在与样品物质接触一侧具有对临界角以上的入射角的光进行全反射的平面,包含所述平面一部分的第一部分的在远紫外区的折射率比其它部分和样品物质的折射率高。

12.如权利要求11的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

所述光学材料是氟化镁、氟化锂和氟化钙中的任一种,所述折射率连续变化的部分通过扩散或注入杂质离子而形成。

13.如权利要求11或12中任一项的全反射衰减型光学探针,其特征在于,

还在所述光学探针的与样品物质接触的面具有比测定波长充分薄的厚度的涂层。

14.一种水溶液测定分光装置,其特征在于,

包括:与样品物质接触配置的如权利要求1、3或者11中任一项所述的全反射衰减型光学探针;向所述全反射衰减型光学探针照射远紫外光的光源;检测来自所述全反射衰减型光学探针的全反射光的光接收元件;在从所述光源至所述光接收元件的光路中对远紫外光进行分光的分光元件。

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