[发明专利]转换数目的高效计算及连续扫描测试中的功率耗散的估计

说明书

技术领域

本发明通常涉及集成电路的测试，且更具体来说，涉及一种用于计算转换数目及估计连续扫描测试中将耗散的功率量的方法及设备。

背景技术

连续扫描测试通常用于测试集成电路。根据典型的连续扫描技术，在功能模式中，根据所需设计来连接集成电路中的元件并使其提供集成电路的主要设计所针对的所需功效。

在测试模式中，集成电路经设计以连接各种存储器元件(含在集成电路中)，例如，称为“扫描链”的呈序列形式的触发器(即，将一个元件的输出作为输入连接到下一元件)。所述扫描链中的第一元件通常经设计以接收输入位且所述扫描链中的最后元件经设计以扫描输出评估结果，如以下所述。

在典型的扫描测试方案中，经由第一元件将一数目的0及1(输入向量)的呈特定模式的位连续(每一时钟循环一个位)加载到(扫描输入)扫描链中。含在输入向量中的位的数目通常等于对应扫描链中的存储器元件的数目。

一旦用输入向量加载了扫描链，便基于扫描输入的位评估集成电路中的元件(通常为组合逻辑)。触发器经设计以锁存评估结果，且经由扫描链中的最后元件连续扫描输出(每一时钟循环一个位)锁存在扫描链中的位。将所接收的扫描输出与对应于输入向量的所期望扫描输出相比较，以确定集成电路内的各种故障。

发明内容

许多此类扫描链广泛地用于测试集成电路。为对应于复杂/大的设计，扫描链的数目以及扫描链的长度通常较大。而又必须用一数目的输入向量来测试每一扫描链。因此，因此，可用所需组的输入向量来测试集成电路，以确定集成电路是否以所需方式操作。

通常需要计算将在此类连续扫描测试期间发生的转换数目(在扫描元件的输入及/或输出中)。例如，所述数目可用于估计集成电路在连续扫描测试期间将耗散的功率。例如，所述估计可以是相关的，因为扫描测试期间所耗散的功率通常大于(因为将触发更多触发器)正常操作期间(非测试持续时间)所耗散的功率，且所述测试功率可能烧除待测试集成电路的若干部分。

因此，估计集成电路的每一可能设计的测试功率，且改变设计或输入向量以确保最终的集成电路将在连续扫描模式期间在功率规格内操作。至少针对此原因，需要估计给定组的输入向量的功率耗散。

附图说明

图1是其中可实施本发明的各种方面的实例性系统的框图。

图2是图解说明先前实施例中其中执行功率估计的方式的框图。

图3A是电路图，其图解说明先前实施例中其中模拟集成电路的一部分以确定各种元件的输入/输出端子处的转换数目的方式。

图3B用于以数字方式图解说明先前实施例中其中模拟集成电路的一部分以确定各种元件的输入/输出端子处的转换数目的方式。

图4是流程图，其图解说明根据本发明的方面其中可计算连续扫描测试期间的转换数目的方式。

图5A是图解说明其中可仅通过检验输入向量而针对每一扫描元件计算转换数目的方式的图表。

图5B是图解说明其中通过检验存储于扫描元件中的所期望结果(所捕获数据)来计算因所捕获数据的扫描输出所致的转换数目的方式的图表。

图6是图解说明根据本发明的方面其中可估计功率耗散的方式的框图。

具体实施方式

1.概述

本发明的方面仅通过检验将被扫描到扫描链中的输入向量来确定集成电路的连续扫描测试中扫描链的每一扫描元件处的转换数目。因此，可在不检验集成电路的任何网表类型表示的情况下执行确定。

每一扫描元件的此数目的转换可在逻辑上视为含有三个分量：(1)因扫描输入操作所致的转换；(2)因扫描输出操作所致的转换；及(3)因输入向量的第一位及输出向量的最后位所致的转换(通常为扫描输入操作之前的第一扫描元件的值)。传统上，将三个对应计数分别称为第一计数、第二计数及第三计数。

关于(1)，假设将输入向量视为N个位的序列，通过将每一第K位与第(K+1)位相比较以产生第K位置的比较结果来计算第一计数。在经比较的位不相等且否则等于0的情况下，比较结果等于1，且第P扫描元件处的转换数目等于从第P位置到第(N-1)位置的比较结果的和。那么，第一计数等于每一扫描元件处将遭遇的转换数目的和。

还可使用如以下章节中更详细地描述的类似方法来计算第二计数(或以上为(2))。仅通过检验待扫描输入的输入向量的第一位(形成输入向量的位序列的第N位)及在扫描输入操作之前存储于扫描链的第一元件中的位，来确定第三计数(或以上为(3))。