[发明专利]转换数目的高效计算及连续扫描测试中的功率耗散的估计

权利要求书

1、一种确定将在集成电路的连续扫描测试中发生的转换数目的方法，其中所述集成电路包括将在所述连续扫描测试期间连接为扫描链的多个扫描元件，所述方法包括：

接收输入向量；及

计算相应的第一计数，其表示在将所述输入向量扫描输入到所述扫描链的情况下将在所述扫描链中的所述扫描元件的每一者处发生的转换数目，

其中通过仅检验所述输入向量来执行所述计算。

2、如权利要求1所述的方法，其中在不检验表示所述集成电路的设计的网表的情况下执行所述计算。

3、如权利要求1所述的方法，其中所述输入向量包括N个位的序列，其中首先将第N位扫描输入到所述扫描链且最后将第一位扫描输入到所述扫描链，其中所述计算包括：

将所述N个位的序列中的每一第K位与第(K+1)位相比较，以产生第K位置的比较结果，其中K等于取值1到(N-1)的整数，其中在所述所比较的位不相等的情况下，所述比较结果等于1且否则等于0；及

产生第P扫描元件处的所述第一计数，以等于从第P位置到第(N-1)位置的所述比较结果的和。

4、如权利要求1所述的方法，所述方法进一步包括：

在扫描输入所述第一输入向量后，接收对应于所述集成电路的评估的所期望输出向量；及

计算相应的第二计数，其表示在扫描输出所述期望的输出向量的情况下将在所述扫描链中的所述扫描元件的每一者中发生的转换数目，

其中仅通过检验所述期望的输出向量来执行所述计算，其中所述期望的输出向量包括在所述多个输出向量中。

5、如权利要求4所述的方法，其中所述期望的输出向量包括N个位的序列，其中从所述扫描链首先扫描输出第N位且最后扫描输出第一位，其中所述计算包括：

将所述N个位的序列中的每一第K位与第(K+1)位相比较，以产生第K位置的比较结果，其中K等于取值1到(N-1)的整数，其中在所述所比较的位不相等的情况下，所述比较结果等于1且否则等于0；及

产生第P扫描元件的所述第二计数，以等于从第一位置到第P位置的所述比较结果的和。

6、如权利要求5所述的方法，其进一步包括通过将所述多个扫描元件的每一者的所述第一计数与所述第二计数相加来产生相应总计数。

7、如权利要求4所述的方法，其进一步包括：

在所述扫描输入操作之前，接收所述扫描链中的第一扫描元件的位值；及

确定相应的第三计数，其表示由于跟随有所述第一输入向量的第一位的所述位值的传播而将在所述扫描链的所述多个扫描元件的每一者中发生的转换数目，

其中仅通过检验所述位值及所述第一位来执行所述确定。

8、如权利要求7所述的方法，其进一步包括：

确定等于所述第一计数、所述第二计数及所述第三计数的和的总计数。

9、如权利要求1-8中任一权利要求所述的方法，其进一步包括估计集成电路将在连续扫描测试期间耗散的功率量，其中在所述连续扫描测试期间，将在扫描输入操作中将多个输入向量扫描到所述扫描链中且在扫描输出操作中在对所述集成电路的对应评估之后，将扫描输出对应的多个输出向量；所述计算包括计算所述相应的第一计数，其表示在扫描输入第一输入向量的情况下将在所述扫描链的所述多个扫描元件的每一者中发生的所述转换数目，

其中仅通过检验所述第一输入向量来执行所述计算，且其中所述第一输入向量包括在所述多个输入向量中，且

其中基于所述第一计数来估计所述功率量。

10、一种计算机可读媒体，其携载一个或一个以上指令序列以促进使用数字处理系统确定将在集成电路的连续扫描测试中发生的转换数目，所述集成电路包括将在所述连续扫描测试期间连接为扫描链的多个扫描元件，其中包含在所述数字处理系统中的一个或一个以上处理器对所述一个或一个以上指令序列的执行致使所述一个或一个以上处理器执行以下动作：

接收输入向量；及

计算相应的第一计数，其表示在将所述输入向量扫描输入到所述扫描链的情况下将在所述扫描链中的所述扫描元件的每一者处发生的转换数目，

其中仅通过检验所述输入向量来执行所述计算。

11、一种计算机可读媒体，其携载一个或一个以上指令序列以促进使用数字处理系统估计集成电路将在连续扫描测试期间耗散的功率量，其中所述集成电路包括将在所述连续扫描测试期间连接为扫描链的多个扫描元件，其中在所述连续扫描测试期间，将在扫描输入操作中将多个输入向量扫描输入到所述扫描链中且在扫描输出操作中在对所述集成电路的对应评估之后，将扫描输出对应的多个输出向量，其中包含在所述数字处理系统中的一个或一个以上处理器对所述一个或一个以上指令序列的执行致使所述一个或一个以上处理器执行以下动作：

计算相应的第一计数，其表示在扫描输入第一输入向量的情况下将在所述扫描链的所述多个扫描元件的每一者中发生的转换数目，

其中仅通过检验所述第一输入向量来执行所述计算，且其中所述第一输入向量包括在所述多个输入向量中，

其中基于所述第一计数来估计所述功率量。