[发明专利]减少在非易失性存储设备和相关设备中的写时间的方法有效
申请号: | 200710303586.9 | 申请日: | 2007-12-13 |
公开(公告)号: | CN101295543A | 公开(公告)日: | 2008-10-29 |
发明(设计)人: | 金善券;李炳勋 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 钱大勇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 减少 非易失性 存储 设备 相关 中的 时间 方法 | ||
技术领域
本发明涉及存储设备及相关的操作方法,特别地涉及非易失性存储设备及相 关的操作方法。
背景技术
在没有电源的情况下,基于半导体存储设备保持数据的能力,可以将半导体 存储设备分为易失性和非易失性类型。易失性存储设备可以包括静态和动态随机 存取存储器,(也就是SRAM和DRAM),而非易失性存储设备可以包括只读存储 器(ROM)。ROM可以具有多种类型,例如可擦除和可编程ROM(EPROM)、 电EPROM(EEPROM)、闪存,等等。
非易失性存储设备可提供多种优势,因为它们可以提供更小的尺寸、更低的 能量消耗,和/或高级的读/写性能。例如,可将闪存用于向便携式设备提供芯上存 储器,所述便携式设备可能需要相对快速的数据更新,例如蜂窝式电话、数码相 机、音频/视频记录器、调制解调器、智能卡,等等。
可能需要向某些非易失性存储设备提供高于电源电压的电压,在下文中,将 所述电压称为“高电压”,例如,采用F-N隧道、源极端沟道热电子注入等机制的 写操作。虽然可以从电源电压产生所述高电压,但是产生所要求的高电压或目标 电压电平可能要花费时间,在此也将其称为“建立时间”。一旦所述高电压达到目标 电平,可将其施加到一选定的存储单元(或选定的多个存储单元)一段预定的时 间,在此也将其称为“写时间”。写操作可以包括编程和擦除操作。在执行了写操作 之后,可以将施加到一选定的存储单元(或选定的多个存储单元)的所述高电压 放电一段预定的时间,在此也将其称为“放电时间”。图1图示了在如上所述的写操 作期间高电压的波形变化。如图1所示,如果执行连续的写操作,可以重复进行 包括建立时间、写时间和放电时间的上述过程。
因此,当连续写入存储设备的数据量和/或连续写周期的数量增加时,管理写 时间可能变得日益重要。
发明内容
根据本发明的一些实施例,一种操作非易失性存储设备的方法包括在连续写 操作的执行之间的时期,对于编程和/或擦除所述非易失性存储设备的存储单元 将写电压维持在预定电压电平。在一些实施例中,作为对开始写命令的响应,可 以激活在预定电压电平上的写电压,并且,响应于指示连续写命令的信号,可以 阻止写电压的放电。
根据本发明的其它实施例,一种用于向非易失性存储设备写入数据的方法可 以包括响应于指示连续写命令的信号,激活写加速使能信号;响应于所述写加速 使能信号和开始写命令,产生写电压;以及响应于所述写加速使能信号的激活, 在连续写操作的执行及其之间的时期,连续地将写电压维持在预定电压电平。
在一些实施例中,响应于所述写加速使能信号的激活,在连续写操作的执行 之间的时期,可以阻止所述写电压的放电。
在其它的实施例中,所述方法可以进一步包括响应于指示所述连续写操作结 束的信号,使所述写加速使能信号失效,并且响应于所述写加速使能信号,中断 所述写电压的产生。
在一些实施例中,所述连续写操作可以包括编程和/或擦除操作。
在其它实施例中,当所述连续写操作对于编程操作时,可以向所述非易失性 存储设备的源极线提供所述写电压。
在一些实施例中,当所述连续写操作为擦除操作时,可以向所述非易失性存 储设备的字线提供所述写电压。
在其它实施例中,指示连续写命令的所述信号可以是连续写开始命令。
在一些实施例中,指示所述连续写命令的所述信号可以是从外部设备提供的 标志信号。
在其它实施例中,所述方法可以进一步包括在所述连续写操作的执行期间, 响应于寻址的改变,检测向下一页写入的命令,响应检测到的向下一页写入的命 令,中断向前一页存储单元提供的写电压,存储至少一部分向前一页存储单元提 供的写电压,在存储了向前一页存储单元提供的写电压之后,将来自前一页存储 单元的残余电压放掉,并且连同所述存储的写电压一起向下一页的存储单元提供 写电压。
在一些实施例中,所述方法可以进一步包括响应于所述写加速使能信号和所 述写命令,为所述连续写操作产生写电压。
在其它实施例中,当所述写加速使能信号被无效时,中断所述写电压的产生。
在一些实施例中,当对应于下一页的所述连续写操作的最后一个操作结束时, 将所述写电压放电。
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