[发明专利]基板测试电路

权利要求书

1.一种基板测试电路，包括测试总线及与所述测试总线相连的测试信号端，所述基板中的待测信号线通过信号连接端连接到所述测试总线上，其特征在于：所述测试总线上设置有多个信号接入端；每个所述信号接入端与所述测试信号端之间连接有一条测试支路；与同一个所述测试信号端连接的多条所述测试支路中的每条所述测试支路的电阻值相同。

2.根据权利要求1所述的基板测试电路，其特征在于：所述测试总线上，位于相邻两个所述信号接入端之间的总线长度小于40cm。

3.根据权利要求2所述的基板测试电路，其特征在于：每条所述测试支路上具有长度不同的之字形路段，使得每条所述测试支路的电阻值相同。

4.根据权利要求2所述的基板测试电路，其特征在于：每条所述测试支路的宽度不同，使得每条所述测试支路的电阻值相同。

5.根据权利要求2或3所述的基板测试电路，其特征在于：所述基板中的待测信号线为数据线；所述测试总线为数据测试总线；所述测试信号端为数据测试端。

6.根据权利要求5所述的基板测试电路，其特征在于：所述数据线包括数据奇线和数据偶线；所述数据测试总线包括数据测试奇总线和数据测试偶总线；所述数据测试端为数据测试奇端和数据测试偶端；所述数据奇线和所述数据测试奇端连接到所述数据测试奇总线上；所述数据偶线和所述数据测试偶端连接到所述数据测试偶总线上。

7.根据权利要求2或3所述的基板测试电路，其特征在于：所述基板中的待测信号线为栅线；所述测试总线为栅测试总线；所述测试信号端为栅测试端。

8.根据权利要求7所述的基板测试电路，其特征在于：所述栅线包括栅奇线和栅偶线；所述栅测试总线包括栅测试奇总线和栅测试偶总线；所述栅测试端为栅测试奇端和栅测试偶端；所述栅奇线和所述栅测试奇端连接到所述栅测试奇总线上；所述栅偶线和所述栅测试偶端连接到所述数据测试偶总线上。

9.根据权利要求5所述的基板测试电路，其特征在于：还包括公共电极端，与所述基板的公共电极相连。

10.根据权利要求9所述的基板测试电路，其特征在于：还包括防静电环，每条所述数据线分别通过所述防静电环与公共电极相连。

11.根据权利要求10所述的基板测试电路，其特征在于：所述防静电环为TFT有源层沟道。