[发明专利]由介质锥支撑副面的双反射面天线无效
申请号: | 200710176349.0 | 申请日: | 2007-10-25 |
公开(公告)号: | CN101378152A | 公开(公告)日: | 2009-03-04 |
发明(设计)人: | 杨建慧;徐钦友;翟文军;颜娟;朱蓓鑫 | 申请(专利权)人: | 北京天瑞星际技术有限公司 |
主分类号: | H01Q19/10 | 分类号: | H01Q19/10;H01Q19/12;H01Q13/02 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵镇勇 |
地址: | 10001*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 介质 支撑 反射 天线 | ||
1、一种由介质锥支撑副面的双反射面天线,包括主面、副面,所述主面上设有的馈电喇叭,其特征在于,所述的馈电喇叭与所述副面之间通过介质材料连接,所述馈电喇叭从副面漏失掉的电磁波在所述介质材料与空气所形成的界面处形成全反射。
2、根据权利要求1所述的由介质锥支撑副面的双反射面天线,其特征在于,所述介质材料做成圆锥形的介质锥,所述介质锥锥角部位与所述馈电喇叭连接;所述介质锥的锥底部位与所述副面连接。
3、根据权利要求2所述的由介质锥支撑副面的双反射面天线,其特征在于,所述介质锥的锥角α由以下原则确定:
α≥2(θic+β)—180°
式中:θic为所述介质锥的临界入射角;
β为由所述馈电喇叭从所述副面漏失掉的电磁波的最大漏失角。
4、根据权利要求3所述的由介质锥支撑副面的双反射面天线,其特征在于,所述介质锥的临界入射角为:
式中εr为所述介质锥的介电常数。
5、根据权利要求2、3或4所述的由介质锥支撑副面的双反射面天线,其特征在于,所述介质锥的介电常数εr=1.06~2.6。
6、根据权利要求5所述的由介质锥支撑副面的双反射面天线,其特征在于,所述介质锥所用的材料为聚四氟乙烯塑料。
7、根据权利要求3所述的由介质锥支撑副面的双反射面天线,其特征在于,所述的最大的漏失角β小于90°。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京天瑞星际技术有限公司,未经北京天瑞星际技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710176349.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种服装花边
- 下一篇:城市轨道交通信号系统中对列车位置实现动态跟踪的方法