[发明专利]一种摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置及方法有效
申请号: | 200710170648.3 | 申请日: | 2007-11-20 |
公开(公告)号: | CN101158615A | 公开(公告)日: | 2008-04-09 |
发明(设计)人: | 钱进军;聂德品 | 申请(专利权)人: | 上海华龙测试仪器有限公司 |
主分类号: | G01M7/08 | 分类号: | G01M7/08;B25J3/00;B25J13/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 201202上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 冲击 试验 低温 自动 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种摆锤冲击试验机,特别是涉及摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置及方法。
背景技术
传统的摆锤冲击试验机做低温试验时,通常采用手工方法,即用试样夹具从低温箱内取出恒温待测试样,放入冲击砧座上,然后进行冲击过程。
这种方法对于成批试验时的缺点是:
1.劳动强度大;
2.短距离接触低温环境容易造成冻伤手指现象;
3.在放试样于砧座时万一摆锤失控从高处落下砸伤手指;
4.手工取试样送到砧座对中放试样再开始冲击试样,即试样从离开低温箱到完成试样冲击,所花时间难以保证国家标准所规定的时间限度。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置及方法,来提高整个试验过程的自动化程度、试验的精准度和安全系数。
为达到上述目的,本发明所提供的一种摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置,其中包含气动机械手、步进电机、砧座、低温箱、机械手支架、传动轴、外部的电气程序控制系统、试样,其特征在于:其中还包含试样定位圆盘、试样缺口定位座、低温箱舱盖、试样扶正装置;
所述的外部的电气程序控制系统通过电气控制总线分别与气动机械手、步进电机、低温箱舱盖、试样扶正装置相连;
所述的低温箱舱盖设置在低温箱顶部,其位置与气动机械手下降并进入低温箱的位置相对应;
所述的试样定位圆盘设置在低温箱中,传动轴穿透试样定位圆盘的圆心并与试样定位圆盘固定在一起;
所述的试样缺口定位座有若干个,分别设在试样定位圆盘的圆周上,并间隔等角度排列,试样摆放在试样缺口定位座上;
所述的砧座有两个;
所述的试样扶正装置设置在两个砧座侧上方。
所述的试样扶正装置包含转角气缸、摆臂、顶头;
所述的转角气缸设有输出轴,输出轴从转角气缸底部伸出;
所述的摆臂一端垂直连接着转角气缸的输出轴,另一端连接着顶头;
所述的摆臂的旋转角度为0-90度。
所述的顶头材料采用塑料。
所述的气动机械手的下端设有夹子,夹子内侧表面材料采用塑料。
所述的气动机械手的下端设有夹子,夹子内侧喷涂非金属材料作为保护层。
一种采用摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置的自动上料对中方法,其中包含以下步骤:
步骤1:采用摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置自动上料;
所述的步骤1包含以下几个步骤:
步骤1.1:所述的外部的电气程序控制系统向步进电机发出旋转指令,步进电机驱动传动轴带动试样定位圆盘旋转,使一个带有试样的试样缺口定位座旋转到位,提供给气动机械手抓取试样;
步骤1.2:所述的外部的电气程序控制系统向低温箱舱盖发送打开指令,低温箱舱盖打开;
步骤1.3:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送下降指令,气动机械手下降到适合抓取试样的位置;
步骤1.4:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送抓取指令,气动机械手夹子抓取试样;
步骤1.5:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送上升指令,气动机械手上升到气动机械手的初始位置;
步骤1.6:所述的外部的电气程序控制系统向低温箱舱盖发送关闭指令,低温箱舱盖自动关闭;
步骤2:采用摆锤冲击试验机低温自动上料对中装置自动对中;
所述的步骤2包含以下几个步骤:
步骤2.1:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送前进指令,气动机械手沿水平方向从初始位置前进水平终端位置,即到两个砧座中间位置的对应的上方位置;
步骤2.2:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送下降指令,气动机械手下降到两个砧座的中间位置;
步骤2.3:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送松开指令,气动机械手夹子松开试样,试样被放在了两个砧座的中间位置;
步骤2.4:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送上升指令,气动机械手上升到水平终端位置;
步骤2.5:所述的外部的电气程序控制系统向试样扶正装置发送旋转摆动指令,所述的试样扶正装置的转角气缸的输出轴带动摆臂旋转摆动,顶头将试样紧贴两个砧座居中位置;
步骤2.6:所述的外部的电气程序控制系统向气动机械手发送退回指令,气动机械手沿水平方向从水平终端位置退回到初始位置。
步骤3:若是抓取下一个试样,重复步骤1。
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