[发明专利]用于接触检测件的接触装置及接触检测件的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于接触待检测的电子检测件，尤其是设有镀锡触点的检测件的接触装置，至少带有两个导向元件，该导向元件具有缺口，通过该缺口，所述接触元件本质上沿轴向延伸，所述接触元件在分配的导向元件移向所述检测件的面上从该面突出以接触所述检测件。

背景技术

一开始提到的那种接触装置是已知的。为了定位和保持条状的接触元件，该元件要放置在互相轴向间隔设置的导向元件的缺口中。导向元件做成导向板的形式。缺口优选制作成孔的形式，其中导向长度和孔的位置为固定参数。做成条状的触点成为针，其一端接触检测件的检测点，而其另一端与连接接触装置的电子检测设备共同作用。由此形成检测回路来测试检测件的功能，尤其是电子功能。在特殊的构形中，接触检测件的针尖可以没有尖端，特别是当要接触检测件的焊点时也可以做成平的。如果经常接触检测件，那么这就会导致针末端的污染。污染有时优选磨蚀性地，就是磨损去除，其中针长度的一小部分也一起被磨掉。通过这种相对强烈的针的磨损而导致针相应变短，从而必须在达到最小长度时更换针。

发明内容

本发明的任务在于，显著地延长接触装置的接触元件，特别是针的寿命。

根据本发明，该任务如此实现：导向元件的轴向间距或者移向检测件的导向元件的轴向位置可以被校准以适应突出长度。由此实现了导向元件互相的相对轴向移位或者移向检测件的导向元件的轴向移位，使得针在用旧以后还能保持足够长的伸出量以保证良好的接触。由此，针是否有接触尖端或者它们是否做成磨平的样子都不重要了。尽管如此，平的结构具有在为了清洗针尖端而进行磨蚀处理时能保持针端形状的优点。采用削尖的针的话，磨损还导致尖端变短。本发明对象的另一个优点在于，针尖端的伸出量，即突出长度可以保持相对较短，因为根据本发明存在适应的可能，其中短的导向保证了良好的导向，这意味着良好的定位和由此导致的良好的接触。

根据本发明的另一实施方式，导向元件的轴向间距可由至少一个校准装置校准。校准装置负责导向元件的轴向移位，以校准和补充校正接触元件的突出长度为目的。

优选的是，校准装置涉及连续的校准装置和/或分等级的校准装置。连续的校准装置允许无级校准，而分等级的校准装置则使得附属导向元件以规定的距离跳变移位成为可能。

当校准装置优选做成校准螺纹装置时，则尤其能实现连续的校准。如果旋转所述校准装置的至少一个螺纹结构，附属的导向元件就相应地连续在轴向方向上移动。

如果校准装置是气压的、液压的和/或压电的校准装置则是很有利的。因此，利用气压的校准装置，即通过空气压力来校准导向元件的轴向间距。可选择的，液压的校准装置也是可以的，在此情况下利用液压的校准装置实现上述的校准。由于校准路径相对较小，还可以考虑校准装置也可以是压电校准装置。该压电校准装置的距离通过向该压电校准装置施加更大或者更小的电压而发生变化。通过电压的校准而因此实现了导致附属的导向元件的校准的机械校准。

根据本发明的其他实施方式，校准装置优选为本质上能够径向移动的楔形和/或阶梯装置。优选地，移向接触元件的末端区域的导向元件支撑在轴向间隔开的另一个导向元件上。两个导向元件的这种支撑优选通过校准装置实现。如果该校准装置在长度上可变，尤其是做成楔形和/或阶梯装置，则很明显的是根据楔子的尺寸和/或阶梯的等级来校准两个导向元件的间距，由此能以相应的方式校准接触元件的突出长度。对于楔形装置而言该过程可连续地实现，而对于阶梯装置而言该过程不连续地，即分等级地实现。

本发明的另一个实施方式中，校准装置做成取出装置，其中导向元件之间的轴向间距通过取出而变小。正如已经说过的，校准装置设置在两个导向元件之间。如果该取出装置能够被取出，则导向元件之间的轴向间距变小。其中当导向元件之间仅有一个取出装置再取出时，导向元件就互相触碰在一起。当然也可以考虑在轴向上设置若干个排列成行的校准装置，这些校准装置都做成取出装置，或者具有若干个能够取出的元件。如果取出其中一个取出装置或者元件，则导向元件之间的轴向间距减小相应的量，这导致接触元件的突出长度增大相应的量。当通过磨损而使接触元件在长度上继续变小，取出又一个取出装置或者又一个元件使突出长度的修正得以进行。该过程可以相应地经常重复，并且依赖于成行排列的取出装置或者元件的数量。