[发明专利]用于接触检测件的接触装置及接触检测件的方法

权利要求书

1.一种用于接触待检测的电子检测件(25)，尤其是设有镀锡触点的检测件(25)的接触装置(1)，具有至少两个带有缺口(16，17，18，19)的导向元件(2，3，4，5)，通过所述的缺口，接触元件(20)本质上沿轴向延伸，所述接触元件(20)在分配的导向元件(5)的移向所述检测件(25)的面上从该面突出以接触所述检测件(25)，其特征在于，能够校准所述导向元件(2，3，4，5)的轴向间距或者移向所述检测件(25)的导向元件(5)的轴向位置以适应突出长度(H)。

2.如权利要求1所述的接触装置，其特征在于，所述导向元件(2，3，4，5)的轴向间距能够利用至少一个校准装置(28)来校准。

3.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述校准装置(28)能够连续地校准和/或分等级地校准。

4.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述校准装置(28)为校准螺纹装置(31)。

5.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述校准装置(28)为气压、液压和/或压电的校准装置(34)。

6.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述校准装置(28)为本质上能够径向移动的楔形装置和/或阶梯装置(35)。

7.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述校准装置(28)做成取出设备形式，其中通过取出所述的校准装置(28)而减小所述导向元件(2，3，4，5)之间的轴向间距。

8.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述导向元件(2，3，4，5)的轴向间距能够利用至少一个设置于所述导向元件(2，3，4，5)之间的间距保持器(29)进行校准。

9.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述间距保持器(29)在厚度上可变。

10.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述间距保持器(29)在厚度上可以利用所述校准装置(28)，和/或所述校准螺纹装置(31)，和/或气压、液压和/或压电校准装置(34)，和/或楔形装置和/或阶梯装置(35)，和/或取出装置进行校准。

11.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述轴向间距能够利用至少一个可取出的和/或本质上可径向移动的间距保持器(29)进行校准。

12.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述可取出的间距保持器(29)做成框架形式或者由框架部件(30)装配而成。

13.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述框架形式的结构做成至少在一面开放的框架结构。

14.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述框架形式的结构利用U形框架部件(30)构成。

15.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，设有若干个，尤其是互相叠加的间距保持器(29)，所述间距保持器(29)能够单个被取出。

16.如前面任意一项权利要求所述的接触装置，其特征在于，所述尤其互相叠加的间距保持器(29)围绕沿轴向的轴(M)互相旋转设置。

17.一种用于接触待检测的检测件(25)，尤其是是设有镀锡触点的检测件(25)的方法，优选采用如前面任意一项或几项权利要求所述的接触装置(1)，利用本质上沿轴向延伸的、穿过至少两个导向元件(2，3，4，5)延伸的接触元件(20)，其中所述接触元件(20)在分配的导向元件(5)移向所述检测件(25)的面上从该面突出以接触所述检测件(25)，其中所述导向元件(2，3，4，5)的轴向间距或者移向所述检测件(25)的导向元件(5)的轴向位置能够被校准以适应突出长度(H)。