[发明专利]一种驱动器电路

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种驱动器电路。

背景技术

在线测试仪ICT(In-Circuit Test)是一种通用的PCBA(Printed CircuitBoard Assemble，线路板集成)测试仪器。ICT对数字器件进行加电的矢量测试时，经常用到一种反驱动技术。所谓反驱动技术，就是对被测器件的输出管脚进行瞬时饱和驱动、促使输出管脚到达其相反逻辑状态。

随着制造技术的进步，越来越多的低电压芯片被采用，2.5V，1.8V，1.5V，1.0V系列芯片越来越多。在反驱动时低电压芯片管脚的等效内阻很小，只有十几欧姆，甚至几欧姆。低电压芯片的管脚对测试电压，测试电流和反驱动时间有着越来越严格的要求。过电压和过电流可能造成器件栅氧化层击穿、ESD(electron-static discharge，静电放电)二极管过应力和CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体)锁闭等现象。反驱动时间过长会导致器件输出接点和接合引线的温度升高，超过熔点会引发引线失效或疲劳，从而产生潜在故障并缩短元件寿命。

传统ICT的驱动器不能满足低电压芯片的测试需求。传统ICT的驱动器设计不够精密，输出阻抗通常约为5Ω，无负载驱动误差约为150mV，不能精确提供被测器件管脚所需的逻辑高/低电平，特别是在负载内阻很小的情况下。如图1所示，假如驱动器内阻5Ω，反驱动时器件等效输出内阻Rx为5Ω，驱动器激励1.2V，则实际加到Rx的电压只有0.6V。

传统驱动器内阻大，输出电压不精确，输出电流不可监测，传统的驱动器在低电压芯片测试时面临很多局限，甚至不能正常工作。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提出一种驱动器装置，解决现有驱动器装置内阻大的问题。

为解决上述问题，本发明提出了一种驱动器电路，包括一传统驱动器，与传统驱动器的输出端相连的待测器件，还包括：

一反馈回路，所述反馈回路的反馈输出端和第一输入端与所述传统驱动器输入端相连，其第二输入端与待测器件的电压输入端相连，所述反馈回路用于通过反馈使待测器件的电压输入端的电压为期望加在待测器件Rx上的电压；

其中，所述反馈回路包括一加法器和一减法器(U2)，加法器的输出端为所述反馈回路的反馈输出端，减法器(U2)的第一输入端和第二输入端分别为所述反馈回路的第一输入端和第二输入端，加法器的第一输入端与所述期望加在待测器件上的电压相连，第二输入端与减法器(U2)的输出端相连，减法器(U2)的输出端输出电压为传统驱动器输入端电压与待测器件的电压输入端的电压之差，加法器的输出端电压为所述期望加在待测器件上的电压和减法器(U2)输出端输出电压之和。

进一步地，上述驱动器电路还可具有以下特点，还包括，一监测电路，用于监测待测器件进入反驱动状态的时间，当待测器件进入反驱动状态的时间超过系统设定的最大驱动电流时间时，断开待测器件与所述驱动器电路的连接，保护待测器件。

进一步地，上述驱动器电路还可具有以下特点，所述监测电路包括采样电阻、电压采样模块和监控模块，以及继电器，其中，

采样电阻与继电器串联在所述传统驱动器输出端和待测器件的电压输入端之间，采样电阻与继电器输出端相连，继电器与待测器件相连；

所述电压采样模块连接在采样电阻的两端，用于获取采样电阻两端的电压；

所述监控模块的与电压采样模块的输出端和系统设定的电压(Vref)相连、还与一系统设定的最大驱动电流时间信号相连，所述电压(Vref)等于系统设定的参考驱动电流值乘以采样电阻的值，监控模块的输出端的控制信号端与继电器S1相连，当所述电压采样模块的输出大于所述电压(Vref)时，所述待测器件进入反驱动状态，所述待测器件进入反驱动状态的时间超过所述最大驱动电流时间时，监控模块的输出的控制信号断开继电器。

进一步地，上述驱动器电路还可具有以下特点，所述监控模块输出的控制信号断开继电器时，还输出报警信号至系统，提示测试失败。

进一步地，上述驱动器电路还可具有以下特点，所述电压采样模块为一减法器(U3)，所述减法器(U3)一端连接在采样电阻与传统驱动器相连的一端，另一端连接在采样电阻的另一端，所述减法器(U3)输出采样电阻两端电压差。