[发明专利]对半导体集成电路进行门级别仿真的方法和装置

权利要求书

1.一种对半导体集成电路(IC)进行门级别仿真的方法，所述方法包括：

提供包括关于可变电源和可变地源的信息的网表；

提供包括所述可变电源和所述可变地源的电路模型；以及

通过使用该电路模型对所述网表进行门级别仿真。

2.如权利要求1所述的方法，还包括基于所述仿真的结果确定所述网表是否正常工作。

3.如权利要求1所述的方法，其中所述仿真的结果基于所述可变电源和所述可变地源的状态。

4.如权利要求1所述的方法，其中所述仿真使用Verilog硬件描述语言(HDL)。

5.如权利要求1所述的方法，其中所述仿真使用超高速专用集成电路硬件描述语言(VHDL)。

6.一种计算机可读介质，包含可由处理器执行的指令，以执行对半导体集成电路(IC)进行门级别仿真的方法步骤，所述方法步骤包括：

提供包括关于可变电源和可变地源的信息的网表；

提供包括所述可变电源和所述可变地源的电路模型；以及

通过使用该电路模型对所述网表进行门级别仿真。

7.一种用于对半导体集成电路(IC)进行门级别仿真的装置，所述装置包括：

数据库，被配置为存储关于可变电源和可变地源的信息；

建模工具，被配置为提供包括所述可变电源和所述可变地源的电路模型；以及

仿真器，被配置为通过使用所述电路模型对网表进行门级别仿真。

8.如权利要求7所述的装置，其中所述仿真器的输出基于所述可变电源和所述可变地源的状态。

9.如权利要求7所述的装置，其中所述仿真器使用Verilog硬件描述语言(HDL)。

10.如权利要求7所述的装置，其中所述仿真器使用超高速专用集成电路硬件描述语言(VHDL)。

11.一种优化集成电路(IC)芯片的方法，包括：

提供包括关于可变电源和可变地源的信息的IC芯片的设计；

通过根据所述IC芯片的元件的电压要求的相似性以及所述可变电源和所述可变地源的时序来划分所述IC芯片设计的元件，从而形成至少一个电压岛；

对每个电压岛进行门级别仿真，以输出包括关于该电压要求和每个电压岛的时序的信息的表；以及

基于所述表优化所述IC芯片的设计。

12.如权利要求11所述的方法，进一步包括：

在所述IC芯片上放置电路元件。

13.如权利要求11所述的方法，其中所述仿真每个电压岛包括：

提供包括关于可变电源和可变地源中对应的一个的信息的网表；以及

通过使用所述网表对所述电压岛进行门级别仿真。

14.如权利要求11所述的方法，其中所述电压岛的仿真结果基于所述可变电源和所述可变地源中对应的一个的状态。

15.一种设计集成电路(IC)芯片的方法，包括：

提供包括可变电源和可变地源的电路模型；

提供包括关于所述可变电源和所述可变地源的信息的网表；

通过使用所述电路模型对所述网表进行门级别仿真；

基于所述仿真的结果确定所述网表是否正常工作；以及

当所述网表正常工作时生成所述网表的布局图。

16.如权利要求15所述的方法，其中所述仿真的结果基于所述可变电源和所述可变地源的状态。

17.如权利要求15所述的方法，其中通过使用Verilog硬件描述语言(HDL)执行所述网表的仿真。

18.如权利要求15所述的方法，其中通过使用超高速专用集成电路硬件描述语言(VHDL)执行所述网表的仿真。