[发明专利]光学记录方法,光学记录装置,光学记录介质,光学复制方法和光学复制装置

说明书

技术领域

本发明涉及下列内容：一种用于全息记录信息的光学记录方法和光学记录装置，其中在记录过程中降低材料在记录层的整个厚度上的不均匀消耗，以实现高密度记录和高的多重记录；一种光学记录介质，所述光学记录介质用于通过所述光学记录方法记录以有效复制以大容量和高密度记录的信息；和一种光学复制方法和光学复制装置，所述光学复制方法和光学复制装置用于以有效和优异的方式复制通过所述光学记录方法记录的信息。

背景技术

用于在光学记录介质上全息记录信息的光学记录方法通常利用传输图像信息的信息光束(目标光束)与参考光束在光学记录介质中的干涉，干涉条纹是在写入光学记录介质中时产生的。这些光学记录方法包括其中发射具有同轴排列的轴的信息光束和参考光束的共线系统。在共线系统中，信息光束和参考光束产生干涉条纹，由此在记录层中记录图像信息。通过使用与参考光束相同的光束，在与记录过程中相同的方向上辐照光学记录介质复制记录的图像信息。在辐照时，由干涉条纹产生衍射光，并且将其接收以产生信息。

在用于增加光学信息记录容量的技术之中，存在其中增加干涉条纹的记录密度的多重记录系统。这些记录系统包括位移多重记录、角度多重记录、波长多重记录和相位多重记录。

在它们之中，位移-多重记录与其中盘旋转以进行记录，且在随机存取方面是优异的盘记录如CD和DVD高度兼容，从而用于使用记录用的单透镜的共线系统，在所述位移-多重记录中，在相对于记录层的水平面方向上逐渐移动发射光或光学记录介质的同时，在初次记录的信息之上另外记录或重写信息(参见“NIKKEY ELECTRONICS，”，2005年1月17日，105-114页)。

如图8所示，在使用共线系统的位移多重记录中，从拾波器发射的信息光束和参考光束34通过物镜12辐照光学记录介质23。使信息光束和参考光束34在记录层4中以特定尺寸的倒圆锥的形状会聚。然后，在记录层4中以倒圆锥形的干涉条纹的形式全息记录信息。在全息记录之后，在图8中的箭头方向(光学记录介质的圆周方向)上水平移动光学记录介质23或拾波器。然后，信息光束和参考光束34在记录层4中辐照与记录区不同的区域以进行后续全息记录，从而依次进行多重记录。

然而，上述多重记录连同水平位移一起只允许形成一种穿过记录层的厚度的干涉条纹，从而限制了记录容量的增加。

同时，公开了在双光束干涉系统中使用角度多重记录和位移多重记录的组合的记录方法(参见日本专利申请公开(JP-A)2004-177958)。在这种记录方法中，逐渐改变入射到静物光学记录介质的记录层中的信息光束和参考光束的入射角，以在记录层的整个厚度上实现信息的多重记录。在整个厚度上多重记录之后，使光学记录介质旋转以在光敏层的新区域中进行在整个厚度上的信息的多重记录。以这种方式，多重全息记录不但在水平方向上进行，而且在记录层的整个厚度上进行，从而增加记录容量。

在上述方法的两种中，如图8所示，使信息光束和参考光束34在记录层4中以倒圆锥的形状会聚；因此，光束直径根据穿过记录层4的深度改变。换句话说，光束直径在入口附近大，而在焦点附近较小。因此，光密度在光束直径大的区域(以下在某些场合下称为记录层的上部)中低，并且随着光束直径降低而增加。特别是，光密度在圆锥的顶点附近(以下在某些场合下称为记录层的下部)高，在此光反应加速，并且耗尽记录层材料如单体。相反，在光束直径大的区域中，记录层材料消耗得较少。因此，在记录层的整个厚度上，记录层材料经历不均匀的消耗。

此外，在耗尽材料的区域中，不能获得更多次的记录。于是，下一次记录必须移到不与该区域交叠的区域，从而导致在水平方向上记录不是很多。浪费了记录层材料并且降低了记录密度。在增加记录容量方面受到强加的限制。

因此，下列内容还没有得到实现，并且现在需要提供：一种用于全息记录信息的光学记录方法和光学记录装置，其中在记录过程中降低材料在记录层的整个厚度上的不均匀消耗，以实现高记录密度和增加的记录容量；一种光学记录介质，所述光学记录介质用于通过所述光学记录方法记录以有效复制以大容量和高密度记录的信息；以及一种光学复制方法和光学复制装置，所述光学复制方法和光学复制装置用于以有效和优异的方式复制通过所述光学记录方法记录的信息。

发明内容