[发明专利]内存IC检测分类机

权利要求书

1.一种内存IC检测分类机，包括机台，其特征在于，还包含：

供料匣：设在机台的前端，用以承置待测的内存IC；

收料匣：设在机台的前端，用以承置完成检测的内存IC；

第一移料装置：设在机台的前端，并设有具数个吸头的取放器，用以一次移载数个待测/完成检测的内存IC；

多个测试装置：设在机台的后端，所述多个测试装置并设有具数个测试套座的测试电路板；

第二移料装置：设在机台的后端，具有可左右横移至各测试装置的载台，用以一次移载数个待测/完成检测的内存IC至测试装置与转运装置；

转运装置：设在供、收料匣与测试装置间，并以循环交替的机构载送数个待测/完成检测的内存IC，所述循环交替的机构是在前端交换端设有第一升降机构，后端测试端则设有第二升降机构，另在前、后端位置间设有位于不同高度的第一、二平移机构，且第一、二平移机构分别可移动在前、后端位置的载台，以载送待测/完成检测内存IC；

中央处理器：用以控制与整合各装置运作，以执行自动化作业。

2.根据权利要求1所述的内存IC检测分类机，其特征在于：所述的收料匣是细分不同等级的收料匣，用以承置完成检测的不同等级内存IC。

3.根据权利要求1所述的内存IC检测分类机，其特征在于：所述的测试装置设有压接机构，所述的压接机构具有数个取置头，以取置和下压数个内存IC。

4.根据权利要求1所述的内存IC检测分类机，其特征在于：所述的测试装置的测试电路板与测试机连接。

5.根据权利要求1所述的内存IC检测分类机，其特征在于：在机台后端的测试装置与转运装置的后端外部设有热测室装置，以使测试装置可放置于高温环境下执行检测作业并对待测内存IC进行预热。

6.根据权利要求1所述的内存IC检测分类机，其特征在于：所述的转运装置前端的第一升降机构可升降带动承置有待测/完成检测内存IC的料盘到达第一、二平移机构的前端位置。

7.根据权利要求1所述的内存IC检测分类机，其特征在于：所述的转运装置后端的第二升降机构可升降带动承置有待测/完成检测内存IC的料盘到达第一、二平移机构的后端位置。