[发明专利]半导体封装构造及其制造方法无效
| 申请号: | 200710103941.8 | 申请日: | 2007-05-15 |
| 公开(公告)号: | CN101051629A | 公开(公告)日: | 2007-10-10 |
| 发明(设计)人: | 翁国良;李政颖 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 封装 构造 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明有关于一种半导体封装构造及其制造方法,特别有关于可降低封装厚度的半导体封装构造。
背景技术
为了因应趋势及时代的进步,单一多功能电子产品已经成为目前的主要消费市场,在多功能及轻薄短小的需求情况下,多芯片堆叠的封装构造于是产生。
如图1所示,已知半导体封装构造100包含第一封装件110、第二封装件120与载板130。该第一封装件110包含有第一基板111、第一芯片112、多个第一凸块113以及多个第一锡球114。该第二封装件120包含有第二基板121、第二芯片122、多个第二凸块123以及多个第二锡球124。该第一芯片112以这些第一凸块113倒装片结合于该第一基板111,该第二芯片122以这些第二凸块123倒装片结合于该第二基板121,且该第二封装件120的该基板121的表面125设置有多个焊球140以供外接电路板(图未绘出),为了使产品功能性增加,必须将该第一封装件110与该第二封装件120堆叠,再透过该载板130、这些第一锡球114与这些第二锡球124使该第一封装件110与该第二封装件120形成电性连接,然而在该半导体封装构造100,该第一封装件110为了与该第二封装件120电性连接,必须保留该载板130、这些第一锡球114与这些第二锡球124的设置空间,使得该半导体封装构造100的厚度无法缩小。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种半导体封装构造及其制造方法,具有第一表面与第二表面的封装件设置于承载器的上表面并电性连接该承载器,芯片设置于该封装件的该第二表面并电性连接该承载器与该封装件,由于该芯片贴设于该封装件,其可省略另一基板的设置,使得该半导体封装构造的整体厚度变小。
依本发明的一种半导体封装构造,主要包含承载器、封装件、芯片以及多个焊线。该承载器具有上表面、下表面、贯穿该上表面及该下表面的开口以及多个形成于该下表面的导接垫,该封装件设置于该承载器的该上表面,该封装件具有第一表面及第二表面,并包含有多个导接元件,该封装件以这些导接元件电性连接该承载器,该芯片设置于该封装件的该第二表面,该芯片具有有源面及多个焊垫,该有源面朝向该承载器,且这些焊垫对应于该承载器的该开口,这些焊线连接这些焊垫与这些导接垫。
附图说明
图1:已知半导体封装构造的截面示意图。
图2:依据本发明的第一具体实施例,一种半导体封装构造的截面示意图。
图3A至3E:依据本发明的第一具体实施例,该半导体封装构造在工艺中的截面示意图。
图4:依据本发明的第二具体实施例,另一种半导体封装构造的截面示意图。
图5A至5D:依据本发明的第二具体实施例,该半导体封装构造的截面示意图。
附图标记说明
100半导体封装构造
110第一封装件 111第一基板 112第一芯片
113第一凸块 114第一锡球
120第二封装件 121第二基板 122第二芯片
123第二凸块 124第二锡球 125表面
130载板 140焊球
200半导体封装构造
210承载器 211上表面 212下表面
213开口 214导接垫 215焊球垫
220封装件 221第一表面 222第二表面
223导接元件
230芯片 231有源面 232焊垫
240焊线 250封胶体 260焊球
300半导体封装构造
310承载器 311上表面 312下表面
313开口 314导接垫 315焊球垫
320封装件 321第一表面 322第二表面
323导接元件
330芯片 331有源面 332焊垫
340焊线 350封胶体 360焊球
具体实施方式
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