[发明专利]半导体封装构造及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200710103941.8 申请日: 2007-05-15
公开(公告)号: CN101051629A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 翁国良;李政颖 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L21/60
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 构造 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1、一种半导体封装构造,其包含:

承载器,其具有上表面、下表面、贯穿该上表面及该下表面的开口以及多个形成于该下表面的导接垫;

封装件,其设置于该承载器的该上表面,该封装件具有第一表面及第二表面,并包含有多个导接元件,该封装件以这些导接元件电性连接该承载器;

芯片,其设置于该封装件的该第二表面,该芯片具有有源面及多个焊垫,该有源面朝向该承载器,且这些焊垫对应于该承载器的该开口;以及

多个焊线,这些焊线连接这些焊垫与这些导接垫。

2、如权利要求1所述的半导体封装构造,其中该封装件为基板型封装构造或引线框架型封装构造。

3、如权利要求1所述的半导体封装构造,其中这些导接元件选自于锡球或外接脚。

4、如权利要求1所述的半导体封装构造,其另包含有封胶体,其封装该封装件、该芯片与这些焊线。

5、如权利要求1所述的半导体封装构造,其另包含有多个焊球,这些焊球设置于该承载器的该下表面。

6、一种半导体封装构造的制造方法,包含:

提供承载器,该承载器具有上表面、下表面、贯穿该上表面及该下表面的开口以及多个形成于该下表面的导接垫;

设置封装件于该承载器的该上表面,该封装件具有第一表面、第二表面以及多个导接元件,该封装件以这些导接元件电性连接该承载器;

设置芯片于该封装件的该第二表面,该芯片具有有源面及多个焊垫,该有源面朝向该承载器,且这些焊垫对应于该承载器的该开口;以及

形成多个焊线,这些焊线连接这些焊垫与这些导接垫。

7、如权利要求6所述的半导体封装构造的制造方法,其中该封装件为基板型封装构造或引线框架型封装构造。

8、如权利要求6所述的半导体封装构造的制造方法,其另包含有:形成封装胶以封装该封装件、该芯片与这些焊线。

9、如权利要求6所述的半导体封装构造的制造方法,其另包含有:设置多个焊球于该承载器的该下表面。

10、如权利要求6所述的半导体封装构造的制造方法,其中该芯片以粘胶粘着固定于该封装件的该第二表面。

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