[发明专利]一种断电测试装置有效
| 申请号: | 200710076884.9 | 申请日: | 2007-09-05 | 
| 公开(公告)号: | CN101382569A | 公开(公告)日: | 2009-03-11 | 
| 发明(设计)人: | 王安伟 | 申请(专利权)人: | 深圳TCL新技术有限公司 | 
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/02 | 
| 代理公司: | 广东国晖律师事务所 | 代理人: | 欧阳启明 | 
| 地址: | 518067广东省*** | 国省代码: | 广东;44 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 断电 测试 装置 | ||
技术领域
本发明属于电器设备测试技术领域,具体说来,涉及到电器设备抗断电性能测试的技术。
背景技术
电器设备,尤其是家用电器设备,在短暂断电状态下不应该发生不良现象,例如对电视机而言,不能出现异常响声、花屏、死机等。这个要求是产品设计必须要面对的一个重要课题,也是产品质量检测的一个关键项目,为此,需要有相应的断电检测装置,以便检测和分析电器设备瞬间断电后对机器性能的影响,确保产品符合用户要求。
目前,市场上没有专门用于电器设备快速断电测试的国产设备,电器设备生产厂家或者高价购买进口的检测设备,如瑞士夏弗纳SCHAFFNERTUM2003检测设备等,或者干脆手动开关机检测。
针对设备快速断电的检测,SCHAFFNER TUM2003给出的时间范围是2ms-99s,然而实际应用中,多数电器设备尤其是家用电器设备只需要在20ms-400ms范围内检测已经足够。因为断电时间再小电源已经不受影响,再大完全可以人工模拟,因此对于家用电器的断电检测,没有必要使用进口仪器。
由于进口设备存在成本过高,并且资源浪费的问题,不少家用电器的生产商都靠人工扳动电源开关来模拟电源快速断电,这样的测法其时间间隔不易控制,精度无法保证,而且100ms以内的电源快速断电人工模拟很难做到,无法满足精确测试、精细设计的要求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种断电测试装置,旨在提供一种构造简单、成本较低的家用电器抗断电性能测试设备。
本发明是这样实现的,一种断电测试装置,用来控制被测试电器设备的交流电源的通断,所述的装置包括依次串联的脉冲形成电路、放大整形电路和驱动输出电路,其中:
所述的脉冲形成电路用来提供控制所述的被测试电器设备交流电源通断的原始脉冲信号;
所述的放大整形电路用于对所述的原始脉冲信号进行放大整形处理;
所述的驱动输出电路用于根据所述脉冲信号控制所述的被测试电路交流电源的通断。
所述的脉冲形成电路具体包括电容充放电部分、脉冲宽度调节部分和充电电流放大部分,所述的电容冲放电部分通过电容充放电过程产生充电电流输出到所述的脉冲宽度调节部分,所述的脉冲宽度调节部分用来调节所述的原始脉冲信号的宽度,所述的充电电流放大部分用来将所述的充电电流放大并转换成电压后输出到所述的放大整形电路。
所述的电容充放电部分具体包括电源(VCC),换向开关(K1),充放电电容(C1)和半导体三极管(Q1),所述的换向开关被(K1)拨动时,所述的充放电电容(C1)反向,产生所述的充电电流输出到所述的半导体三极管(Q1)的基极,所述的半导体三极管(Q1)将所述的充放电电容(C1)充电电流放大后输出到所述的脉冲宽度调节部分。
所述的脉冲宽度调节部分为与所述的半导体三极管(Q1)的发射极串联的可调电位器(R4)和另一半导体三极管(Q5)组成,通过所述的可调电位器(R4)阻值的改变调整提供给所述的另一半导体三极管(Q5)的基极电流的大小,在同样充电能量的情况下,用来调整所述的另一半导体三极管(Q5)导通的时间,从而调整所述的原始脉冲信号的宽度,继而可以改变快速断电的时间。
所述的可调电位器(R4)的阻值范围可以为0至5K欧姆,也可以更宽。。
所述的充电电流放大部分包括三极管(Q5)和集电极电阻(R1)和集电极电容(C2),所述的三极管(Q5)接成共发射极电路形式,将0.7V以上的充电电压进行放大处理。
所述的放大整形电路为由三极管(Q3)和电阻(R2)组成的共发射极放大电路,用来对输入的电压信号进行放大整形。
所述的驱动输出电路采用继电器输出驱动,所述的继电器绕组由所述的放大整形电路的输出信号控制,所述的继电器的常开触点串联连接于被测试家用电器交流电源线的火线之中。
所述的继电器输出驱动包括半导体三极管(Q2)和继电器(J1),在电源(VCC)和三极管(Q2)集电极之间连接有并联的继电器(J1)绕组、二极管(D1)和电容(C4)。
所述的驱动输出电路为固体继电器SSR或者可控硅驱动输出电路。
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