[发明专利]一种断电测试装置

权利要求书

1.一种断电测试装置，用来控制被测试电器设备的交流电源的通断，其特 征在于，所述的装置包括依次串联的脉冲形成电路、放大整形电路和驱动输出 电路，其中：

所述的脉冲形成电路用来提供控制所述的被测试电器设备交流电源通断的 原始脉冲信号；该脉冲形成电路具体包括电容充放电部分、脉冲宽度调节部分 和充电电流放大部分，所述的电容充放电部分通过电容充放电过程产生充电电 流输出到所述的脉冲宽度调节部分，所述的脉冲宽度调节部分用来调节所述的 原始脉冲信号的宽度，所述的充电电流放大部分用来将所述的充电电流放大并 转换成电压后输出到所述的放大整形电路；

所述的放大整形电路用于对所述的原始脉冲信号进行放大整形处理；

所述的驱动输出电路用于根据所述脉冲信号控制所述的被测试电路交流电 源的通断。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述的电容充放电部分具体 包括电源(VCC)，换向开关(K1)，充放电电容(C1)和半导体三极管(Q1)， 所述的换向开关被(K1)拨动时，所述的充放电电容(C1)反向，产生所述的 充电电流输出到所述的半导体三极管(Q1)的基极，所述的半导体三极管(Q1) 用来根据所述的充放电电容(C1)的充电电流放大后输出到所述的脉冲宽度调 节部分。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述的脉冲宽度调节部分为 与所述的半导体三极管(Q1)的发射极串联的可调电位器(R4)和另一半导体 三极管(Q5)，通过所述的可调电位器(R4)阻值的改变调整提供给所述的另 一半导体三极管(Q5)的基极电流的大小，在同样充电能量的下，用来调整所 述的另一半导体三极管(Q5)导通的时间，从而调整所述的原始脉冲信号的宽 度。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述的可调电位器(R4) 的阻值范围为0至5K欧姆。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述的充电电流放大部分包 括三极管(Q5)和集电极电阻(R1)和集电极电容(C2)，所述的三极管(Q5) 接成共发射极电路形式，将0.7V以上的充电电压进行放大处理。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述的放大整形电路为由三 极管(Q3)和电阻(R2)组成的共发射极放大电路，用来对输入的电压信号进 行放大整形。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述的驱动输出电路采用继 电器输出驱动，所述的继电器绕组由所述的放大整形电路的输出信号控制，所 述的继电器的常开触点串联连接于被测试家用电器交流电源线的火线之中。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述的继电器输出驱动包括 半导体三极管(Q2)和继电器(J1)，在电源(VCC)和三极管(Q2)集电极 之间连接有并联的继电器(J1)绕组、二极管(D1)和电容(C4)。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述的驱动输出电路为固体 继电器SSR或者可控硅驱动输出电路。