[发明专利]防改写校正数据的电子称电路和利用该电路进行电子称校正和检测的方法

权利要求书

1、一种防改写校正数据的电子称电路，包括一集成电路、一显示器、一传感器和一电擦除可编程只读存储器；其中，集成电路中包括：

一微处理器，该微处理器用于接收数字信号，并于下述的一次可程序化内存上读取指令集与存取标准参数，计算相应于该数字信号的实际模拟量，

一一次可程序化内存，它直接连接该微处理器，该一次可程序化内存中含有一程序指令集，

一模数转换器，它直接连接于该微处理器，用于接收传感器发送的模拟信号，并将该模拟信号转换为数字信号，

一串口接口电路，它直接连接于该微处理器，并可将微处理器输出的标准信号传送至电擦除可编程只读存储器，

一时序控制器，连接于该微处理器，该微处理器经由该时序控制器输出该实际模拟量的读数，并将该读数传送至显示器显示；

其特征是所说的一次可程序化内存中含有的程序指令集中还包括一参数记忆区，该参数记忆区包括量测指令集及校正指令集，该指令集用于存储标定参数或校正用标准参数。

2、根据权利要求1所述的防改写校正数据的电子称电路，其特征是所说的集成电路中还包括一电荷泵、一开关；该电荷泵的使能端与微处理器相连，该开关控制端直接与该微处理器连接，该开关的一输入端与该电荷泵输出端连接，其另一输入端与该微处理器的电源连接，该开关电路输出端与该一次可程序化内存连接，以提供该一次可程序化内存工作电压及烧录电压。这样就不需要再通过另外的烧录器即可以把校正系数烧录入电擦除可编程只读存储器中。

3、一种利用权利要求1或2所述的防改写校正数据的电子称电路进行校正和检测的方法，其特征是包含以下的步骤：

A)于微处理器之烧录有指令集的一次可程序化内存中设置一参数记忆区；

B)运行该一次可程序化内存指令集中的校正模式，包括读取标准参数，找寻参数记忆区之存储地址，确认该存储地址为空，对该存储地址写入标准参数；

C)校正模式运行时，微处理器根据一次可程序化内存的使用情况，向显示器发送与内部一次可程序化内存校正次数、内存使用情况相关的信息；

D)将标定参数或标准参数写入该一次可程序化内存中的参数记忆区以及与集成电路相连的电擦除可编程只读存储器的数据存储区中；

E)运行该一次可程序化内存指令集中的测量模式，测量模式自我数据检测，自我数据检测将电擦除可编程只读存储器中的校正数据与内部一次可程序化内存中的参数记忆区中的校正参数进行比较，以检测外部存储器中的校正数据与内部一次可程序化内存中的参数记忆区中的校正参数是否在允许变化范围之内。