[发明专利]防改写校正数据的电子称电路和利用该电路进行电子称校正和检测的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种校正数据的电子称电路和一种电子称校正和检测的方法。

背景技术

目前，公知的电子秤系统构造包括待测信号传感器、模数转换器、微处理器、显示器和校正系数存储器组成。而微处理器则包含有程序内存、数据存储器、以及中央计算单元等。

在进行测量时，将传感器与待测信号接触，传感器将待测信号的物理量转换成电信号，该电信号被模数转换器转换成数字信号，被微处理器计算、处理或是进一步转换，并显示在显示器上。然而促使微处理器计算、处理或是进一步转换的根源，就是来自与程序内存所存储的指令，指令的总和及顺序便成为程序。

但是，很多包含有模数转换器的集成电路在能够正确显示测量值之前，都必须经过校正手续，如此模数转换器及微处理器方可正确无误的将该待测信号的物理量转换成相对应的数字结果显示出来。在电子式测量系统的校正程序中，一般要使用具有标准物理量之标准量测物。传感器接触标准量测物后发出一标准量测信号，经转换成数字信号后成为标准参数并存储于内存中，当微处理器执行一般量测时，从内存中取出校正用的标准参数，并根据量测信号计算出实际模拟量，因此，经过校正之后，会产生相对应的校正系数，这些校正系数需要被存储下来，同时必须能后被微处理器读取。如此，微处理器方可正确的运行计算或转换的功能并形成精确的数值，因此，大多数的电路中的电子组件都需要外接一电子组件-电擦除可编程只读存储器(EEPROM)，以提供存储这些校正参数的能力。

现有的校正系数烧录方式，如图1所示的电路方框图。该电路中包括一集成电路21、一显示器22、一传感器24和一电擦除可编程只读存储器23；其中，集成电路21中包括：

一微处理器214，该微处理器214用于接收数字信号，并于下述的一次可程序化内存215上读取指令集与存取标准参数，计算相应于该数字信号的实际模拟量，

一一次可程序化内存215，它直接连接该微处理器214，该一次可程序化内存215中含有一程序指令集2151，

一模数转换器213，它直接连接于该微处理器214，用于接收传感24器发送的模拟信号，并将该模拟信号转换为数字信号，

一串口接口电路212，它直接连接于该微处理器214，并可将微处理器214输出的标准信号传送至电擦除可编程只读存储器23中，

一时序控制器211，连接于该微处理器214，该微处理器214经由该时序控制器211输出该实际模拟量的读数，并将该读数传送至显示器22显示。

此集成电路21外接显示器22、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)23与传感器24。集成电路21必须经过校正程序之后才能够执行一般量测程序，校正程序系以传感器24直接接触标准量测物，传感器24输出标准信号至模拟数字转换器213，此标准信号为模拟信号，模拟数字信号转换器213根据标准信号输出数字标准信号至微处理器214，经过微处理器214的计算之后，标准参数经由串口接口电路212被存储于电可擦除可编程只读存储器23之中，而微处理器214在执行任何指令时，都必须从一次可程序化内存215中读取指令集。在完成校正程序之后，标准参数被存储于电可擦除可编程只读存储器23之中，在进行一般量测程序时，传感器24直接接触待测量物，输出量测信号至模拟数字转换器213，经过模数转换后，模拟数字转换器213输出数字量测信号至微处理器214，微处理器214经由串口接口电路212于电可擦除可编程只读存储器23读取标准参数。经过计算后，获得相对应于数字量测信号的实际测量值，微处理器214将由时序控制器211输出实际测量值至显示器22之上。

上述现有技术之电路中的微处理器214在计算待量测物至实际测量值时，必须使用标准参数，而标准参数是被存储于电可擦除可编程只读存储器23之中，虽然电可擦除可编程只读存储器23较易于存取，但是它也很容易被改写。容易被改写的原因是电可擦除可编程只读存储器23的引脚曝露于外部，所以可以很方便的用通用器件-读写器接入曝露与外部的引脚，将数据读出并更改后重新写入。图2是该电路测量和校正的步骤程序图。从图中可以看出，现有的电子称完全信任于外部的校正数据，由于外部的存储器很容易被改写，而又没有检测的步骤，外部数据被更改之后，集成电路无法检测数据是否曾经被恶意更改。如果是普通的家用厨房称，没有过高的要求，但若是商业用的计重称、计价秤等，关系到消费者的利益，校正数据的保密以及防止改写就很重要。若是利欲熏心的投机商通过更改外部存贮器的数据来达到个人违法获利的目的，那对消费者来说，将是一种极大的损害。