[发明专利]激光功率检测装置及检测控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及激光的功率或能量的检测，具体涉及医用激光器的激光功率检测装置。本发明还涉及一种用于激光功率检测装置的检测控制方法。 

背景技术

本发明作出以前，一般对激光功率地检测要考虑到光机电三个方面的设计。对于如图1固体激光器激光功率检测示意图所示激光检测，要考虑激光功率探头测量的除了激光外，还有部分泵浦灯发出的强脉冲光，由于采样片只对激光进行采样，使一小部分激光(大约＜1％)反射到激光功率探头里，所以干扰强光和激光相比，可以达到足以相互影响干扰的程度，而且随着注入泵浦灯电流的加大，杂散强光的强度更大，所以最后从功率探头出来的电信号就更加不纯了，这就影响了激光检测的线性度。 

激光功率电路示意框图如图2所示，其中主要有放大和调零两大功能，调零的功能是纠正运放和电路方面的偏置，使最后的输出在没有激光时，电路输出的电压为零，同时也为了消除杂散光的影响，刚才上面说了，除了电路的干扰外，由于杂散光随着工作电流的增大，杂散光也相应的增强，由于调零电路调好后是固定的，只能对应特定情况下的调零，而对于变化的杂散光则无法做到都能消除，尤其是对于脉冲激光能量的测量，由于杂散光所占的成分和激光不相上下，导致激光的测量产生严重的偏差。另外，随着工作电流的改变，电路的干扰也会产生不同的影响，导致最后的输出也会产生偏差。所以针对目前的情况，目前也有采用高质量的滤光片，而只让激光透过，而不让强光透过，但是这样由于滤光片的不稳定性造成最后的输出不稳定。不仅增加了成本，而且更进一步增大故障的几率。 

发明内容

(一)要解决的技术问题 

本发明的目的是提供一种结构简单、成本低、检测数据准确的激光功率检测装置。本发明的目的还提供一种用于激光功率检测装置的检测控制方法。 

(二)技术方案 

为了达到上述目的，本发明采取以下方案： 

本发明的激光功率检测装置，包括激光器、位于激光器内的光闸、位于激光器的激光输出端的采样片，其特征在于：还包括会聚透镜、光电二极管、微控器，其中，会聚透镜位于采样片下面，光电二极管位于会聚透镜的下面，所述光电二极管与微控器连接。 

其中，所述微控器包括调零装置、减法放大电路、积分电路、后放输出电路，所述调零装置与减法放大电路连接，减法放大电路与积分电路连接，积分电路与后放输出电路连接。 

其中，所述光电二极管包括两路光电二极管，分别与微控器连接。 

本发明用于激光功率检测装置的检测控制方法，有以下步骤： 

1)通过调零装置的调整，使微控器的输出电压为零； 

2)让激光器的电路正常工作，即给激光器的泵浦灯供电，同时关闭光闸，使激光器不产生激光； 

3)光电二极管接收到杂散光，此时微控器同时采集到杂散光和电磁干扰信号，并将杂散光和电磁干扰信号作为一个偏置量A保存； 

4)打开光闸，让激光器产生激光，此时光电二极管同时接收到激光、杂散光，即微控器采集到激光、杂散光和电磁干扰信号的总和B； 

5)由微控器的程序处理(B-A)得到激光的功率值或能量值； 

6)当需要改变电路参数，从而导致杂散光和电磁干扰量发生变化时，程序就重复以上步骤1)-步骤5)，即再得到准确的激光功率值或能量值。 

(三)有益效果 

由于采用了以上技术方案，本发明有以下优点： 

1)本发明不仅达到了准确、快速地测量激光功率，且降低了测量机器的制造成本，增加了可靠性； 

2)本发明结构简单，操作方便； 

3)本发明改变了采用热敏探测器检测激光功率的途径，提出了基于廉价的光电二极管检测激光功率的新的技术路线和方案。 

附图说明

图1是已有技术的光路工作原理图； 

图2是已有技术的电路工作原理图； 

图3是本发明的光路工作原理图； 

图4是本发明的电路原理图； 

图5是本发明的具体控制流程图。 

图中：1、激光物质；2、泵浦灯；3、全反镜；4、半反镜；5、光闸；6、采样片；7、功率探头；8、激光器；9、调零装置I；10、前放电路；11、后放输出电路I；12、会聚透镜；13、光电二极管I；14、光电二极管II；15、减法放大电路；16、积分电路；17、后放输出电路II；18、调零装置II。 

具体实施方式

以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。