[发明专利]可以防止半导体塑料封装体内元器件分层的封装方法有效
申请号: | 200710022348.0 | 申请日: | 2007-04-29 |
公开(公告)号: | CN101075600A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 梁志忠;王新潮;于燮康;茅礼卿;潘明东;陶玉娟;闻荣福;周正伟;李福寿 | 申请(专利权)人: | 江苏长电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495;H01L23/31 |
代理公司: | 江阴市同盛专利事务所 | 代理人: | 唐纫兰 |
地址: | 214431江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 可以 防止 半导体 塑料 封装 体内 元器件 分层 方法 | ||
技术领域:
本发明涉及一种半导体塑料封装体元器件,尤其是涉及一种可以防止 半导体塑料封装体内元器件分层的封装方法。属半导体封装技术领域。
背景技术:
半导体塑料封装元器件基本采用多种物质相结合的封装体,其中的材 料主要有金属引线框、环氧树脂、金属丝、高分子粘合剂、金属镀层等。 但是,不同的物质会因温度、湿度、振动等因素的变化而容易造成在不同 物质之间产生分层;尤其是在高温环境中,由于不同物质的热膨胀系数是 不一样的,所以会在水平方向或垂直方向产生不同程度的拉、推应力,进 而在不同物质间产生分层(如图6(a)、7(a)、8(a)、9(a)所示),最终导致半 导体塑料封装元器件的功能缺陷或早期失效等问题。
本发明的目的在于克服上述不足,提供一种可以可以防止半导体塑料 封装体内元器件分层的封装方法。
本发明的目的可以通过以下方案加以实现:一种可以防止半导体塑料 封装体内元器件分层的封装方法,其特征在于:在半导体塑料封装体内, 在与环氧树脂塑封料结合的金属引线框的表面局部镀上金属层,同时在与 环氧树脂塑封料结合的金属引线框的表面制作粗糙面。局部镀金属可采用 电镀、沉积、蒸金、溅镀等方式来实现;粗糙面可采用机械或蚀刻加工或 刮除等方式来实现。在金属引线框的表面通过局部镀金属层的方式来相对 增加引线框金属底材的表面积:一方面可以减少金属引线框与环氧树脂间 的介质;另一方面,金属底材一般采用铜材,而金属镀层往往采用金、银 等,因为铜与环氧树脂的粘合力要大大优于金和银,所以局部镀金属层的 方法也间接增加了金属引线框与环氧树脂间的粘合力(如图3)。同时通过 在金属引线框的表层制作粗糙面来增加与环氧树脂间的结合面积,减少因 拉力等因素造成的金属引线框与环氧树脂之间的滑动力(如图4)。因此, 以上两种方案的结合使用可以使金属引线框与环氧树脂之间相互咬得更 紧,从而起到防止或减少分层的作用。
本发明半导体塑料封装元器件分层问题的改善,有利于提高元器件的 散热能力和抗热应力变化能力,产品的密封性、功能参数以及可靠性都得 到了很好的保证。
附图说明
图1为本发明的实施例示意图。
图2为本发明的典型完整塑封体结构示意图。
图3(a)、(b)为制作局部金属层前后金属引线框与环氧树脂塑封料接合 面的受力对比图。
图4(a)、(b)为制作粗糙面前后金属引线框与环氧树脂塑封料接合面的 受力对比图。
图中:金属引线框1,环氧树脂塑封料2,金属层3,粗糙面4,金属 丝5,硅材芯片6。
具体实施方式:
参见图1,本发明可以防止半导体塑料封装体内元器件分层的封装方 法,它是在半导体塑料封装体内,在与环氧树脂塑封料2结合的金属引线 框1的表面局部镀上金属层3,同时在与环氧树脂塑封料2结合的金属引 线框1的表面制作粗糙面4。
参见图2,图2为典型完整塑封体结构示意图。
参见图3、4,图3、4为本发明改善前后金属引线框与环氧树脂塑封 料接合面的受力对比图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏长电科技股份有限公司,未经江苏长电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710022348.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于DSP芯片的励磁控制器的USB通讯装置
- 下一篇:自动吸放石板用真空吸盘