[发明专利]薄膜覆晶封装的电路卷带及其薄膜覆晶封装构造有效

专利信息
申请号: 200710000370.5 申请日: 2007-01-22
公开(公告)号: CN101231988A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 陈纬铭 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 薄膜 封装 电路 及其 构造
【权利要求书】:

1.一种薄膜覆晶封装的电路卷带,其特征在于其包含:

一可挠性介电膜;

复数个引脚,每一引脚是具有一底面、一顶面以及至少两侧面,该些引脚的底面贴附于该可挠性介电膜;以及

一引脚加固层,其是为电绝缘性并形成于该可挠性介电膜上,更粘接至该些引脚的侧面。

2.根据权利要求1所述的薄膜覆晶封装的电路卷带,其特征在于其另包含有一防焊层,其形成于该些引脚与该引脚加固层上,且该防焊层具有一开口,以显露该些引脚内端的顶面。

3.根据权利要求1所述的薄膜覆晶封装的电路卷带,其特征在于其中所述的引脚加固层是由一液态胶固化形成。

4.根据权利要求1所述的薄膜覆晶封装的电路卷带,其特征在于其中所述的引脚加固层是与该些引脚的顶面为共平面。

5.一种薄膜覆晶封装的电路卷带,其特征在于其包含:

一可挠性介电膜;

复数个引脚,每一引脚具有一底面、一顶面以及至少两侧面,该些引脚的底面是贴附于该可挠性介电膜;

一防焊层,其形成于该些引脚与该可挠性介电膜上,且该防焊层具有一开口,以显露该些引脚内端的顶面与侧面;以及

一引脚加固层,其是为电绝缘性并形成于该可挠性介电膜上且在该开口内,以粘接至该些引脚的显露侧面。

6.根据权利要求5所述的薄膜覆晶封装的电路卷带,其特征在于其中所述的引脚加固层是由一液态胶固化形成。

7.根据权利要求5所述的薄膜覆晶封装的电路卷带,其特征在于其中所述的引脚加固层是与该些引脚的顶面为共平面。

8.一种薄膜覆晶封装构造,其特征在于其包含如权利要求1或5所述的电路卷带以及一凸块化晶片。

9.根据权利要求8所述的薄膜覆晶封装构造,其特征在于其另包含有一底部填充胶,其形成于该电路卷带与该凸块化晶片之间。

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