[发明专利]具有通用和专门资源的块的测试模块

说明书

技术领域

本发明涉及利用测试装置对被测器件进行测试。

背景技术

为了对电子装置进行测试，尤其是对提供电气输入和输出信号(例 如，数字输入或输出、模拟输入或输出、RF输入或输出、静态/DC输入或 输出)的集成电子电路进行测试，将测试或激励信号馈送到被测器件的输 入，并且例如通过与期望数据相比较来利用自动测试设备评估被测器件的 响应信号。这种自动测试设备包括了特定的测试功能，也就是说，该测试 设备可以执行的测试功能或例程。该测试功能可以以可执行软件代码的形 式被结合在测试设备中。

可用的测试装置的示例是Agilent Technologies的93000测试装置。

传统上，测试装置可被连接在工作站和一个或多个被测器件(DUT) 之间。测试装置是由若干个测试模块形成的，这些测试模块与彼此并行连 接，并且指定要执行的特定测试。每个模块具有允许完成复杂的测试例程 的专门局部功能的专门资源。例如，数字波形模块可具有提供测试期间所 需的数字波形信号的能力。模拟波形模块可具有提供测试期间所需的模拟 波形信号的能力。每个模块必须根据其在测试期间的专门功能而被分别开 发。这可能涉及到高昂的开发成本。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种高效的系统，用于对被测器件(DUT) 进行测试。独立权利要求实现了该目的。其他实施例由从属权利要求示 出。

根据本发明的示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的 测试设备的测试模块，该测试模块适用于执行专门测试功能(例如复杂测 试的上下文中的局部功能)，并且包括：通用部分(例如独立于该局部功 能的硬件和/或软件块)，该通用部分适合于提供对于该测试模块的测试功 能来说非专门的测试资源(例如，存储器资源和/或处理资源)，该通用部 分包括适合于连接到测试设备的中央控制器件的控制接口；以及专门部分 (例如，被选择性地调节以完成该局部功能的硬件和/或软件块)，该专门 部分将(例如经由模块内部接口)被耦合到通用部分并且适合于提供对于 该测试模块的测试功能来说专门的测试资源，专门部分包括适合于连接到 被测器件(即一个或多个被测器件)的被测器件接口。

根据另一个示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的测 试设备的测试装置(例如，类似于Agilent Tecdhnologies的9300测试装 置)，该测试装置包括：适用于接纳多个测试模块的接纳单元(例如，包 括用于插盒状测试模块的多个插槽的支架)；以及将被接纳在(或者接纳 在)接纳单元中的多个具有上述特征的测试模块。

根据另一个示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的测 试设备，该测试设备包括：中央控制器件(例如像工作站或者膝上型笔记 本电脑或者PC那样的计算机)，用于集中控制(和/或监视)为了测试被 测器件而要执行的测试；以及具有上述特征的测试装置；其中，将被接纳 在测试装置的接纳单元中的多个测试模块的控制接口连接到(或者可连接 到)中央控制器件。

根据本发明的另一个示例性实施例，提供了一种对用于对被测器件进 行测试的测试设备的测试装置进行配置(例如进行编程或安装)的方法， 该方法包括：将多个具有上述特征的测试模块插入到测试装置的接纳单元 中；以及根据用于对被测器件进行测试的专门测试(例如用于对DUT “ABC”进行测试的测试“XYZ”)来同时地(即在同一时间，例如通过 向通用部分中的至少两个中的每一个提供相同的编程信号或配置指令)至 少部分地配置(即，根据将要执行的专门测试例程来配置各个测试模块) 多个测试模块的通用部分中的至少两个。

本发明的实施例可以部分或全部由一个或多个合适的软件程序来实现 或支持，这些软件程序可以存储在任何种类的数据载体上或者通过任何种 类的数据载体以其他方式提供，并且可在任何合适的数据处理单元中执行 或者由任何合适的数据处理单元来执行。软件程序或例程可以优选地被应 用来提供将由测试装置执行的用于测试被测器件的测试功能(例如，生成 用于激励被测器件的激励信号，以及/或者对被测器件响应于激励信号的施 加而产生的响应信号进行评估)。根据本发明实施例的测试例程的执行可 通过计算机程序来执行，即通过软件来执行，或者利用一个或多个特殊的 电子优化电路来执行，即用硬件来执行，或者以混合形式来执行，即利用 软件组件和硬件组件来执行。