[发明专利]具有通用和专门资源的块的测试模块

权利要求书

1.一种具有用于对被测器件(201)进行测试的多个测试通道的测试 设备(200)，每个测试通道具有测试模块(206)，该测试模块(206) 适用于执行专门测试功能，并且包括

通用部分(213)，该通用部分(213)适合于提供对于所述测试模块 (206)的测试功能来说非专门的测试资源，该通用部分(213)包括适合 于连接到所述测试设备(200)的中央控制器件(202)的控制接口 (204)；

专门部分(214)，该专门部分(214)被耦合到所述通用部分 (213)并且适合于提供对于所述测试模块(206)的测试功能来说专门的 测试资源，该专门部分(214)包括适合于连接到所述被测器件(201)的 被测器件接口(205)，

其中，所述通用部分(213)包括第一存储器单元(300)，该第一存 储器单元(300)适用于存储用于对所述被测器件(201)进行测试的至少 一个测试模式。

2.如权利要求1所述的测试设备(200)，

其中，所述通用部分(213)包括第二存储器单元(303)，该第二存 储器单元(303)适用于存储一组预期值，该组预期值将被与所述被测器 件(201)响应于对所述被测器件(201)施加激励信号而生成的响应信号 相比较。

3.如权利要求2所述的测试设备(200)，

其中，所述通用部分(213)包括第三存储器单元(304)，该第三存 储器单元(304)适用于存储一组结果值，该组结果值是由于将一组预期 值与所述被测器件(201)响应于对所述被测器件(201)施加激励信号而 生成的响应信号相比较而产生的。

4.如权利要求3所述的测试设备(200)，

其中，所述第一存储器单元(300)、所述第二存储器单元(303)和 所述第三存储器单元(304)是在物理上实现为单个共享存储器器件的逻 辑上相分离的存储器部分。

5.如权利要求1所述的测试设备(200)，

其中，所述通用部分(213)包括处理器单元(305)，该处理器单元 (305)适用于控制所述专门部分(214)。

6.如权利要求1所述的测试设备(200)，

其中，所述测试模块(206)适合于作为将要被可移除地插入到测试 装置(203)的接纳单元的插槽中的插盒。

7.如权利要求1所述的测试设备(200)，

其中，所述通用部分(213)和所述专门部分(214)是由以下各项构 成的群组中的一项：容纳在两个分离的外壳内的两个物理上分离的组件、 容纳在公共的外壳内的一个物理上公共的组件、以及两个分离的软件组 件。

8.如权利要求1所述的测试设备(200)，

其中，所述专门部分(214)包括转换单元(401)，该转换单元 (401)适用于对在所述专门部分(214)和所述通用部分(213)之间传 播的信号进行转换。

9.如权利要求8所述的测试设备(200)，

其中，所述转换单元(401)适用于在通用信号和专门信号之间进行 转换。

10.如权利要求8所述的测试设备(200)，

其中，所述转换单元(401)包括可编程逻辑单元。

11.如权利要求8所述的测试设备(200)，

其中，所述转换单元(401)包括由以下各项构成的群组中的至少一 项：现场可编程门阵列、可编程逻辑器件、以及专用集成电路。

12.如权利要求1所述的测试设备(200)，

适用于对由以下各项构成的群组中的被测器件(201)进行测试：存 储器器件、逻辑电路、电气电路、集成电路、处理器、片上系统、智能 卡、应答器、以及混合电路。