[发明专利]磁记录介质以及使用该磁记录介质的磁记录和再现装置有效
| 申请号: | 200680049808.2 | 申请日: | 2006-11-02 |
| 公开(公告)号: | CN101351842A | 公开(公告)日: | 2009-01-21 |
| 发明(设计)人: | 清水谦治 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
| 主分类号: | G11B5/667 | 分类号: | G11B5/667;G11B5/738 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;李峥 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 记录 介质 以及 使用 再现 装置 | ||
1.一种垂直磁记录介质,其在非磁性基底上至少具有软底层、底膜、中间膜和垂直磁记录膜,其中,
所述软底层是具有非晶结构的软磁性膜,所述底膜由Ni-W合金形成,并且所述中间膜由Ru合金形成,
在所述Ni-W合金中,其Ni含量为80原子%或更大,W含量在1原子%至12原子%的范围内,
所述底膜的厚度在1nm至10nm的范围内,
所述Ru合金具有6°或更小的Δθ50,所述Δθ50是表明垂直取向的(0002)面的发散。
2.根据权利要求1的磁记录介质,其中所述Ni-W合金的饱和磁通密度Ms为50emu/cm3或更大。
3.根据权利要求1或2的磁记录介质,其中所述底膜还包含至少一种选自B、Mn、Si和Al的元素。
4.根据权利要求1或2的磁记录介质,其中所述软磁性膜包含Co-Fe合金。
5.根据权利要求4的磁记录介质,其中所述Co-Fe合金的Fe含量在5原子%至40原子%的范围内。
6.根据权利要求1或2的磁记录介质,其中所述软底层的膜厚度在20nm至80nm的范围内。
7.根据权利要求1或2的磁记录介质,其中所述中间膜的厚度为16nm或更小。
8.一种磁记录和再现装置,包括磁头和根据权利要求1至7中任何一项的磁记录介质,所述磁头是单磁极磁头,以使信息能够记录在所述磁记录介质中和从所述磁记录介质再现。
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