[发明专利]磁记录介质以及使用该磁记录介质的磁记录和再现装置有效

专利信息
申请号: 200680049808.2 申请日: 2006-11-02
公开(公告)号: CN101351842A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 清水谦治 申请(专利权)人: 昭和电工株式会社
主分类号: G11B5/667 分类号: G11B5/667;G11B5/738
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;李峥
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 记录 介质 以及 使用 再现 装置
【权利要求书】:

1.一种垂直磁记录介质,其在非磁性基底上至少具有软底层、底膜、中间膜和垂直磁记录膜,其中,

所述软底层是具有非晶结构的软磁性膜,所述底膜由Ni-W合金形成,并且所述中间膜由Ru合金形成,

在所述Ni-W合金中,其Ni含量为80原子%或更大,W含量在1原子%至12原子%的范围内,

所述底膜的厚度在1nm至10nm的范围内,

所述Ru合金具有6°或更小的Δθ50,所述Δθ50是表明垂直取向的(0002)面的发散。

2.根据权利要求1的磁记录介质,其中所述Ni-W合金的饱和磁通密度Ms为50emu/cm3或更大。

3.根据权利要求1或2的磁记录介质,其中所述底膜还包含至少一种选自B、Mn、Si和Al的元素。

4.根据权利要求1或2的磁记录介质,其中所述软磁性膜包含Co-Fe合金。

5.根据权利要求4的磁记录介质,其中所述Co-Fe合金的Fe含量在5原子%至40原子%的范围内。

6.根据权利要求1或2的磁记录介质,其中所述软底层的膜厚度在20nm至80nm的范围内。

7.根据权利要求1或2的磁记录介质,其中所述中间膜的厚度为16nm或更小。

8.一种磁记录和再现装置,包括磁头和根据权利要求1至7中任何一项的磁记录介质,所述磁头是单磁极磁头,以使信息能够记录在所述磁记录介质中和从所述磁记录介质再现。

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