[发明专利]制备用于检测传感器的化学镀自动校准电路的方法无效

专利信息
申请号: 200680049518.8 申请日: 2006-12-21
公开(公告)号: CN101400999A 公开(公告)日: 2009-04-01
发明(设计)人: A·J·艾德尔布洛克 申请(专利权)人: 拜尔保健有限公司
主分类号: G01N33/487 分类号: G01N33/487
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 焦丽雅
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 制备 用于 检测 传感器 化学 自动 校准 电路 方法
【说明书】:

技术领域

[001]本发明一般涉及制备用于检测传感器的自动校准电路的方法。更具体地,该方法涉及制备用于检测传感器的化学镀自动校准电路,所述检测传感器适用于校准测定液体中分析物(例如葡萄糖)的浓度的装置或仪表。

背景技术

[002]对体液的分析物进行定量检测在某些生理异常的诊断和维持中非常重要。例如,对某些个体应当监测乳酸盐,胆固醇和胆红素。特别是糖尿病人经常检测他们体液中的葡萄糖水平以调节他们饮食中的葡萄糖摄取是很重要的。这些检测的结果可以用于确定若有的话是不是需要服用胰岛素或其它药剂。在一种类型的血糖检测系统中,使用传感器检测血液样品。

[003]检测传感器含有与血液葡萄糖反应的生物感测或试剂材料。传感器的检测端适于放入被检测的液体,例如,刺破手指后聚积在人手指上的血液中。利用毛细管作用液体被吸入在传感器从检测端延伸到试剂材料的毛细通道中,使得足够量的待测液体被吸入传感器。接着所述液体与传感器内的试剂材料进行化学反应,导致检测液体中可表示葡萄糖水平的电信号。所述信号通过靠近后部的接触区或传感器的接触端提供给仪表,变成测量输出。

[004]诊断系统,例如血糖检测系统,一般基于测量输出和用于进行检测的试剂-灵敏元件(检测传感器)的已知反应性计算实际葡萄糖值。检测传感器的活性或批校准(lot-calibration)信息以包括输入装置的数字或符号的几种方式给于使用者。一种现有技术的方法包括使用与检测传感器类似的元件,但是其能被装置认作校准元件。检测元件的信息被装置或插入装置的微处理器板、用于直接读取检测元件的存储元件读取。

[005]上述方法具有依赖使用者输入校准信息的缺点,而某些使用者没有这样做。在这种情况下,检测传感器可能使用错误的校准信息,因此获得错误结果。改进的系统使用与传感器组件相关的自动校准电路。当传感器组件放入仪表中并不需要使用者介入,自动校准电路被自动读取。

[006]目前形成金属自动校准电路的一种方法是用金属箔覆盖基片,接着利用消减蚀刻(subtractive etching)法限定电连接机构。所述方法导致比需要更多的花费,因为部分金属材料被从基片上除去,因此在最终的自动校准电路上不存在。

[007]想要提供一种形成自动校准电路的方法,比现有的方法更节省成本,但仍是一种有效的方法。

发明概述

[008]根据一种方法,形成与传感器组件一起使用的自动校准电路。该传感器组件包括至少一个检测传感器并适于与装置或仪表一起使用。提供基片。催化墨或催化聚合物溶液被施加到基片的至少一个侧面上。使用催化墨或催化聚合物溶液帮助限定基片上的电连接机构。对基片进行化学镀,其中施加催化墨或催化聚合物溶液以形成基片的电连接机构。所述电连接机构将用于至少一个检测传感器的自动校准信息传送给装置。

[009]根据另一种方法,形成与传感器组件一起使用的自动校准电路。该传感器组件包括至少一个检测传感器并适于与装置或仪表一起使用。提供基片。形成至少一个穿通基片的缝隙。催化墨或催化聚合物溶液被施加到基片的两个相对侧面上。催化墨或催化聚合物溶液被用于帮助限定基片上的电连接机构。对基片进行化学镀,其中施加催化墨或催化聚合物溶液以形成基片的电连接机构。电连接机构将用于至少一个检测传感器的自动校准信息传送给装置。

[010]根据另一方法,形成适于与至少一种检测液体样品中分析物浓度的装置一起使用的传感器组件。提供基片。将催化墨或催化聚合物溶液施加到基片的至少一个侧面上。使用催化墨或催化聚合物溶液帮助限定基片上的电连接机构。对基片进行化学镀,其中施加催化墨或催化聚合物溶液以形成基片的电连接机构。电连接机构将用于至少一个检测传感器的自动校准信息传送给装置。自动校准电路被连接到传感器组件底部的表面上。提供至少一个适于接收液体样品并与至少一个装置一起操作的检测传感器。

附图的简要描述

[011]图1是根据一种实施方式的检测装置的顶部透视图。

[012]图2是图1检测装置内部的顶部透视图。

[013]图3是根据一种实施方式的传感器组件,其与图1和2的检测装置一起使用。

[014]图4是本发明的一种方法形成的自动校准电路或标记的顶视图。

[015]图5是根据一种图案的图4的自动校准电路的顶视图。

[016]图6是本发明的另一种方法形成的自动校准电路的顶视图。

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