[发明专利]样品上标签的定位方法有效
申请号: | 200680048500.6 | 申请日: | 2006-12-22 |
公开(公告)号: | CN101427138A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | H·N·斯林格兰德 | 申请(专利权)人: | FEI公司 |
主分类号: | G01N33/58 | 分类号: | G01N33/58;G01N21/64;G01N23/225 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张轶东;韦欣华 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 样品 标签 定位 方法 | ||
本发明涉及一种分析样品的方法,该方法包括:
·在样品上预备大体上平坦的表面,
·使样品暴露于含有标签的标示试剂,由此将标签引入样品中,
·获得一系列样品图像,
·获得标签在由此所得的每个图像中的相对位置,以及
·由如此所得的相对位置得到标签的相对位置的三维重构。
由电子X线断层摄影术可了解这种方法,例如“电子X线断层摄 影术,采用透射式电子显微镜的三维成像”,编者J.Frank,ISBN 0-306-43995-6中所述,进一步称为J.Frank。在生物学和组织学中,需 要确定某些分子例如蛋白质、抗体和核苷在例如生物样品中的位置, 以得到关于某些过程在例如生物样品中哪里发生并且如何发生的见 识。类似的需要出现在例如聚合物的分析期间。
在电子X线断层摄影术中,在本质上已知的仪器透射式电子显微 镜(TEM)中用电子束照射薄样品,在TEM中电子束的能量通常为80- 300keV。该样品薄得足以使电子束部分穿透它。样品的不同部分显示 出不同的透明度,这是由于无阻碍地通过样品的电子量是与位置有关 的。通过形成一系列图像,其中在各个图像之间该样品是倾斜的(如 此命名的倾斜系列),并且通过收集来自这一系列图像的数据,可制得 样品的三维重构。
为了成像例如生物组织中的某些结构,可将所谓标签连附到某些 分子上。这些标签的特征在于它们显示出高对比度并且其自身非常特 异性地连附到例如一定类型的抗体,而其自身没有连附到其它类型的 抗体及其它分子。通过检测标签在样品中的位置,于是可确定例如抗 体的存在和定位。
由于通过样品的电子和构成样品的原子之间的相互作用与该原子 的质子数Z非常相关,因此,特别是样品原子组成的局部变化能够这 样成像。由于生物材料包括非常少的高Z原子,因此,尤其贴上含高Z 材料的标签是非常有效的。这种标签可以是含有蛋白质-金络合物的 标签,其中金以金纳米颗粒存在,其典型的直径为1-50nm。这种标 签在市场上可购得,例如来自Nanoprobes Inc.,Yaphank, NY11980-9710,USA的名为NanoGold的标签。
另一种标记方法采用荧光标签。这些标签响应光照射或例如电子 束照射而发出通常具有非常特定波长的荧光。利用光子探测器可探测 到如此发出的光子,由此指示在该位置存在的标签。这种荧光标签的 例子是例如:如此命名的半导体量子点,市售的例如来自Evident Technologies,Troy,NY 12180,USA的名称为EviTag的标签。有机 荧光标签同样也是已知的并且使用广泛,另一种类型的(无机)标签 被描述在例如欧洲申请EP05112781中。
人们注意到预备样品上的平面表面以及使样品与标示试剂相接触 不必按照该顺序进行:很可能首先将标签供给样品,然后预备平坦的 表面,参见“EM中的3-D金原位标记”,P.Gonzalez-Melendi等人, the Plant Journal(2002)Vol.29(2),第237-243页。
电子X线断层摄影术的缺点是其只能用于非常薄的样品,因为电 子必须通过样品。通常需要小于1μm或甚至小于100nm的厚度,如 J.Frank中第25页图2所示。为了研究例如细胞中的某些结构,进行 调查研究的特征必须存在于样品中。大于样品厚度的结构可因此没有 对其全部进行研究,伴有的风险是待研究的结构在薄样品中完全不见 了。
电子X线断层摄影术的另一缺点是必须制作许多样品图像,导致 撞击到样品上的电子总量高。这种高总量使样品受到损害,如J.Frank 中第3章所述。为了在进行电子X线断层摄影术时将损害减至最小, 因此经常必须设法使这种损害极小化,例如在低剂量条件下工作-导 致图像中信噪比差-和/或将样品冷却到低温度例如液氮点或甚至液氦 点。
本发明目的是提供一种在较厚样品中定位标签的方法,该样品比 现有技术方法中可能的厚度更厚。
为了那个目的,根据本发明的方法的特征在于:
·各个图像在大体上相同的方向上显示所述的样品,以及
·从处于该一系列图像的各连续图像之间的样品中除去表面层, 留下大体上平行于最初形成的平坦表面的新表面层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680048500.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于跟踪位置的方法和设备
- 下一篇:免疫学测定方法和芯片