[发明专利]光盘装置无效
申请号: | 200680048480.2 | 申请日: | 2006-12-06 |
公开(公告)号: | CN101341536A | 公开(公告)日: | 2009-01-07 |
发明(设计)人: | 松宫宽昭;西胁青儿 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/095 | 分类号: | G11B7/095;G11B7/135 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 徐冰冰;黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光盘 装置 | ||
技术领域
本发明涉及使用激光源,在光盘上光学记录信息,或者光学再生已记录在光盘上的信息的光盘装置。
背景技术
以往,作为该种光盘装置,已知有例如专利文献1中公开的装置。以下,将参照图7~图10对该以往的光盘装置进行说明。
图7(a)是表示现有技术中的光盘装置的侧视图,图7(b)是表示该光盘装置的光源部分的俯视图,图8是表示用于该光盘装置的全息照片上所形成的全息照片图形的图,图9是表示用于该光盘装置的光检测器上所形成的光检测图形、和相对于从光源的第1发光点射出的第1激光的返回光在该光检测器上的光分布形态的图,图10是表示用于该光盘装置的光检测器上形成的光检测图形、和相对于从光源的第2发光点射出的第2激光的返回光在该光检测器上的光分布形态的图。另外,图8~图10示出从光盘侧观察的全息照片、光检测面。
如图7(a)、图7(b)所示,现有技术中的光盘装置具备:由半导体激光等构成的光源1;将从光源1中射出的光变换成平行光的准直透镜4;将直线偏振光变换成圆偏振光(或者椭圆偏振光)、将圆偏振光(或者椭圆偏振光)变换成直线偏振光的1/4波长板3;将上述平行光聚光在光盘上的物镜5;将在光盘上反射了的光(返回光)进行衍射的全息照片;使由全息照片衍射的返回光分散、聚光的光检测器。
光源1被安装在光检测基板12上,具有射出波长λ1的第1激光的第1发光点1a、和射出波长λ2(其中λ2>λ1)的第2激光的第2发光点1a’。另外,在光检测基板12上,靠近于光源1,安装有将从光源1的发光点1a、1a’射出的激光反射并使其光路折曲的反射镜10。
全息照片具备偏振光性全息照片基板13、和形成在偏振光性全息照片基板13上的全息照片面13a。1/4波长板3被设置在形成有全息照片面13a的偏振光性全息照片基板13上,并构成为与物镜5一体移动。如图8所示,全息照片面13a被在第1激光的光轴7和全息照片面13a的交点上垂直的两条直线(x轴、y轴),4划分为4个区域,即,第1象限、第2象限、第3象限、第4象限,而且各个象限被划分成沿着x轴的长方形的区域91B、91F;92B、92F;93B、93F;94B、94F(全息照片图形)。
光检测器具备光检测基板12和形成在光检测基板12上的光检测面12a。光检测面12a几乎位于准直透镜4的焦平面位置(即,图7(b)所示的第1发光点1a的假想发光点位置)上。如图9、图10所示,将在光检测面12a上,在光轴7和光检测面12a的交点90垂直、且与x轴、y轴平行的两条直线作为X轴、Y轴,在Y轴的+侧配置沿Y轴的梳子齿状的聚焦检测单元F1a、F2a、F1b、F2b、F1c、F2c、F1d、F2d、F1e、F2e,在Y轴的-侧配置梯形的跟踪检测单元7T1、7T2、7T3、7T4(光检测图形)。这些检测单元,相对于Y轴对称配置。此外,从光源1的第1发光点1a射出的光,在含有X轴且与纸面垂直的面内沿平行于X轴方向行进,并通过反射镜10朝光轴7的方向反射(经过点90并与纸面垂直的方向)。
如图7(a)、图7(b)所示,从光源1的第1发光点1a射出的第1激光(波长λ1)被反射镜10反射,并通过准直透镜4聚光而成为平行光。该平行光透过全息照片,由1/4波长板3从直线偏振光(S波或者P波)变换成圆偏振光后,通过物镜5来聚光,从而在第1光盘6的信号面6a上结有光点。由第1光盘6的信号面6a反射的光,透过物镜5,被1/4波长板3变换成直线偏振光(P波或S波)后,向全息照片面13a入射。入射到全息照片面13a的上述直线偏振光,被该全息照片面13a衍射,从而分光成以光轴7作为对称轴的1次衍射光14及-1次衍射光14’。另外,各衍射光经过准直透镜4成为会聚性的光,向光检测基板12上的光检测面12a入射。另外,全息照片面13a所产生的返回光的衍射效率,例如0次光为0%左右、±1次光分别在41%左右。
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