[发明专利]光盘装置

权利要求书

1.一种光盘装置，具备光源、物镜、分光单元和光检测器，

从上述光源射出的光经由上述物镜聚光在光盘的信号面上的磁道上，

在上述信号面上的磁道反射并且衍射后的光，经由上述物镜入射到上述分光单元，

从上述分光单元射出的光，聚光在上述光检测器上，

该光盘装置的特征在于，

上述分光单元被划分为：只有来自上述光盘的0次衍射光所入射的区域A’、和其余的区域A，

上述光检测器被划分为：对从上述分光单元的上述区域A’射出的光进行检测的检测区域B’、和对从上述分光单元的上述区域A射出的光进行检测的检测区域B，

利用来自上述检测区域B的检测信号生成聚焦错误信号，

利用来自上述检测区域B或者上述检测区域B及B’中的任意一个的检测信号生成跟踪错误信号，

利用来自上述检测区域B’的检测信号修正上述跟踪错误信号，

基于上述聚焦错误信号，进行聚焦控制，以便当上述光盘的基材厚度具有正的误差时，上述物镜靠近上述光盘的上述信号面，当上述光盘的基材厚度具有负的误差时，上述物镜远离上述光盘的上述信号面，上述正的误差是比基准厚的误差，上述负的误差是比基准薄的误差。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

上述分光单元被与光轴交叉的两条直线划分成4个象限k，其中，绕逆时针方向k＝1、2、3、4，上述的与光轴交叉的两条直线为平行于光盘的半径方向的y轴和与之垂直的x轴，

上述象限k还被划分为只有来自上述光盘的0次衍射光所入射的区域Ak’、和其余的区域Ak，

从上述分光单元的上述区域Ak、Ak’射出的光，分别通过上述检测区域B、B’上的检测单元Bk、Bk’检测，并作为检测信号Ck、Ck’输出，

将α设为常数，并通过下述公式1～公式3的运算式来生成跟踪错误信号TE。

TE1＝(C2’+C3’)-(C1’+C4’)    (公式1)

TE2＝(C2+C3)-(C1+C4)或TE2＝(C2+C2’+C3+C3’)-(C1+C1’+C4+C4’)    (公式2)

TE＝TE2-α×TE1(公式3)

3.一种光盘装置，具备第1及第2光源、物镜、分光单元和光检测器，

从上述第1及第2光源射出的光经由上述物镜分别聚光在第1及第2光盘的信号面上的磁道上，

在上述信号面上的磁道反射并且衍射后的光，经由上述物镜入射到上述分光单元，

从上述分光单元射出的光，聚光在上述光检测器上，

该光盘装置的特征在于，

上述分光单元被划分为：只有来自上述第1光盘的0次衍射光所入射的区域A’、位于来自上述第2光盘的0次衍射光和±1次衍射光重叠的区域以外的区域A”、以及其余的区域A，

上述光检测器被划分为：对从上述分光单元的上述区域A’射出的光进行检测的检测区域B’、对从上述分光单元的上述区域A”射出的光进行检测的检测区域B”、以及对从上述分光单元的上述区域A射出的光进行检测的检测区域B，

利用来自上述检测区域B的检测信号，生成各个光盘的聚焦错误信号，

利用来自上述检测区域B、或上述检测区域B及B’、或上述检测区域B、B’及B”中的任意一个的检测信号，生成各个光盘的跟踪错误信号，

利用来自上述检测区域B’的检测信号，修正上述第1光盘的上述跟踪错误信号，

利用来自上述检测区域B”、或上述检测区域B’及B”中任意一个的检测信号，修正上述第2光盘的上述跟踪错误信号，

基于上述聚焦错误信号，进行上述第1光盘的聚焦控制，以便当上述第1光盘的基材厚度具有正的误差时，上述物镜靠近上述第1光盘的上述信号面，当上述第1光盘的基材厚度具有负的误差时，上述物镜远离上述第1光盘的上述信号面，上述正的误差是比基准厚的误差，上述负的误差是比基准薄的误差，

基于上述聚焦错误信号，进行上述第2光盘的聚焦控制，以便当上述第2光盘的基材厚度具有正的误差时，上述物镜靠近上述第2光盘的上述信号面，当上述第2光盘的基材厚度具有负的误差时，上述物镜远离上述第2光盘的上述信号面，上述正的误差是比基准厚的误差，上述负的误差是比基准薄的误差。