[发明专利]放射线检测单元以及放射线检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及具有放射线半导体检测元件的放射线检测单元以及使用该单元的放射线检查装置，特别涉及对从位于被检体内的放射性同位素中放射的伽马射线进行检测的放射线检测单元以及放射线检查装置。

背景技术

近年来，为得到生物体(被检体)内部的信息，X线断层照像术装置被广为使用。作为X线断层照像术装置，举出有X线计算机X线断层照像术(X线CT)装置、磁共振图像装置、SPECT(single photon emission CT)装置、正电子X线断层照像术(PET)装置。X线CT装置，从多个方向向被检体的某断面照射窄幅的X线光束，并对透射的X线检测，再通过计算机计算该断面内的X线吸收程度的空间分布，使之图像化。这样，X线CT装置可以对被检体内部形态的异常、例如网膜出血(出血巣)进行把握。

与此相对，为精密地获得被检体内的功能信息，近年来对PET装置正在进行积极的开发。使用了PET装置的诊断方法，首先是将用正电子核素标记的检查用药剂，通过注射或吸入等导入被检体的内部。导入到被检体内的检查用药剂，被蓄积在具有与检查用药剂对应的功能的特定部位。例如，当使用糖类的检查用药剂时，将被选择性地蓄积在癌细胞等新陈代谢较为活跃的部位。此时，从检查用药剂的正电子核素放射正电子，该正电子与周围的电子结合并衰变时，会沿互为约180度的方向放射两条伽马射线(所谓衰变伽马射线)。该两条伽马射线被配置在被检体周围的放射线检测器同时检测，并通过计算机等再生成图像，从而取得被检体内的放射性同位素的分布图像数据。这样，由于通过PET装置获得被检体体内的功能信息，因此可以弄清各种疑难病症的病理。

如图1所示，PET装置100被配置成伽马射线检测器101以360度包围被检体S。伽马射线检测器101，由排列有半导体检测元件(未图示)的半导体检测器102、和用于对入射到各个半导体检测元件的伽马射线进行电检测的检测电路103构成。另外，虽然省略了图示，但基于示出有来自检测电路103的伽马射线的入射情况的输出信号以及伽马射线所入射的半导体检测元件的位置信息，来同定伽马射线的产生位置。然后，通过对多条伽马射线进行检测，再生成被检体S内的检查用药剂分布的图像。

由于衰变伽马射线从被检体向任意方向放射，因此为使半导体检测器102提高检测效率而配置有多个半导体检测元件。例如，如图2所示，提出有这样的放射线检测单元102，其在框体104内配置有安装了半导体检测元件105的基板106(例如，参照专利文献1。)。

可是，PET装置是基于该半导体检测元件的位置信息来同定衰变伽马射线的产生位置，因此一旦半导体检测元件的配置位置精度不好，会导致伽马射线产生位置的位置精度下降、空间分辨率下降。在上述的专利文献1中，如图2所示，半导体检测器102的基板106的两侧部被收容并固定在固定于框体104的侧壁的导轨109的槽109a中。导轨109因由金属或树脂形成，故其槽109a的加工或成型很难以高精度、例如数百μm以下的精度进行。而且，导轨109的安装上也产生误差。另外，由于通过基板106的侧端部和槽109a的嵌合将基板106固定，因此要求基板106的外形尺寸精度良好。结果导致基板106的成本增加。而且，也给半导体检测元件105相对于基板106的定位精度带来影响。

这样，由于基板106或导轨109的尺寸误差或定位误差重合，所以存在很难精度良好地配置半导体检测元件105的问题。

专利文献1：日本特开2005-128000号公报

发明内容

因此，本发明是鉴于上述问题而形成的，本发明的目的在于提供一种高精度地配置有多个半导体检测元件的放射线检测单元，以及使用该单元的放射线检查装置。

根据本发明的一个观点，提供如下的放射线检测单元，其特征是，具备：多个检测基板，该多个检测基板具有布线基板、粘合在该布线基板的上表面并对放射线进行检测的半导体检测元件、和粘合在该布线基板的上表面的隔板；以及，固定单元，该固定单元将层叠有上述多个检测基板的层叠体固定；上述检测基板的半导体检测元件和隔板被以规定的位置关系配置，且上述多个检测基板中，其各自的隔板彼此以规定的位置关系层叠。