[发明专利]放射线检测单元以及放射线检查装置无效
申请号: | 200680045965.6 | 申请日: | 2006-12-04 |
公开(公告)号: | CN101326449A | 公开(公告)日: | 2008-12-17 |
发明(设计)人: | 浮田明宏 | 申请(专利权)人: | 住友重机械工业株式会社 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24;H01L31/09;G01T1/161 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 徐冰冰;黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检测 单元 以及 检查 装置 | ||
1.一种放射线检测单元,其特征在于,具备:
多个检测基板,该多个检测基板具有布线基板、粘合在该布线基板的上表面并对放射线进行检测的半导体检测元件、和粘合在该布线基板的上表面的隔板;以及,
固定单元,该固定单元将层叠有上述多个检测基板的层叠体固定;
上述多个检测基板的各自的半导体检测元件和隔板被以规定的位置关系配置,且该隔板彼此以规定的位置关系层叠。
2.根据权利要求1所述的放射线检测单元,其特征在于,
上述隔板的下表面平坦,且该下表面和上述布线基板的上表面被粘合。
3.根据权利要求1或2所述的放射线检测单元,其特征在于,
上述隔板,具有沿其厚度方向贯穿并使布线基板的表面露出的开口部,通过被导入该开口部中的粘接剂来粘合该隔板和上述布线基板。
4.根据权利要求1~3中任意一项所述的放射线检测单元,其特征在于,
上述多个检测基板,它们的各个隔板互相为相同形状,使该隔板彼此的横方向的位置一致地被层叠。
5.根据权利要求1~4中任意一项所述的放射线检测单元,其特征在于,
上述隔板,在其上表面形成有阶梯部;
上述被层叠的检测基板彼此以如下方式被层叠:上侧的检测基板的隔板的下表面和下侧的检测基板的隔板的上表面相互接触,避免上述下侧的检测基板的隔板的上述阶梯部与上侧的布线基板的接触。
6.根据权利要求1~5中任意一项所述的放射线检测单元,其特征在于,
上述检测基板中,上述隔板具有基部、和从该基部的两侧部朝向放射线的入射方向延伸的一对臂部,上述半导体结晶元件被配置在该基部的放射线的入射方向侧、且位于一对臂部之间;
上述臂部,具有其外侧端的两方朝向放射线的入射方向逐渐进入内侧的锥形状。
7.根据权利要求6所述的放射线检测单元,其特征在于,
上述布线基板的两外侧端分别形成为与延长上述臂部的外侧端的假想线一致的形状。
8.根据权利要求1~7中任意一项所述的放射线检测单元,其特征在于,
上述隔板具有与其下表面正交、并相互成规定的角度的第1基准面和第2基准面;
上述半导体检测元件和隔板,基于该半导体检测元件的外形、隔板的上述第1基准面以及第2基准面而以规定的位置关系进行配置。
9.根据权利要求1~8中任意一项所述的放射线检测单元,其特征在于,
上述隔板由陶瓷材料构成。
10.一种放射线检查装置,具备:
权利要求1~9中任意一项所述的放射线检测单元,对从含有放射性同位素的被检体产生的放射线进行检测;
检测电路单元,与上述放射线检测单元连接;以及,
信息处理单元,基于从上述检测电路单元取得的包含有放射线的入射时刻以及入射位置的检测信息,获取上述放射性同位素在被检体内的分布信息。
11.根据权利要求9所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述放射线检测单元的层叠方向与被检体的体轴方向大致平行。
12.根据权利要求11所述的放射线检查装置,其特征在于,
权利要求6中记载的多个放射线检测单元被配设在包围被检体的位置;
相互邻接的上述放射线检测单元被配置为各自的隔板的臂部的外侧端彼此靠近。
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