[发明专利]铪系化合物、形成铪系薄膜的材料和形成铪系薄膜的方法有效
| 申请号: | 200680045244.5 | 申请日: | 2006-11-29 |
| 公开(公告)号: | CN101341155A | 公开(公告)日: | 2009-01-07 |
| 发明(设计)人: | 平木忠明;三桥智;太附圣;椿谷晓人;金炳洙;刘升镐 | 申请(专利权)人: | TRI化学研究所股份有限公司 |
| 主分类号: | C07F7/00 | 分类号: | C07F7/00;C23C16/18 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴娟;李平英 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 化合物 形成 薄膜 材料 方法 | ||
技术领域
本发明涉及形成铪系薄膜的技术。
背景技术
有人提案了使用四卤化铪、四(二烷基氨基)铪、四(烷氧基)铪或四 (β-二酮)铪,通过化学气相生长方法或原子层控制生长方法形成铪系 薄膜。
然而,在形成铪系薄膜时必需使上述化合物气化。于是,为了气 化而将上述化合物加热。
但是,四卤化铪和四(β-二酮)铪为固体。因此难以气化,难以供 应稳定的气体。即,难以稳定供应原料,因此无法稳定形成高品质的 铪系薄膜。
四(二烷基氨基)铪的热稳定性低。因此加热气化时发生分解。所 以难以供应稳定的气体。即,难以稳定供应原料,因此无法稳定形成 高品质的铪系薄膜。
四(烷氧基)铪的稳定性也差。例如,仅仅是保存就发生分解。因 此难以供应稳定的气体。即,难以稳定供应原料,因此无法稳定形成 高品质的铪系薄膜。
专利文献1:日本特开2005-298467
专利文献2:日本特开2005-294421
专利文献3:日本特开2004-137223
专利文献4:日本特开2004-137222
发明内容
发明所要解决的问题
因此,本发明所要解决的问题为上述问题。特别是提供常温下为 液体并富有稳定性的铪系化合物,以及可稳定供应原料、稳定形成高 品质的铪系薄膜的技术。
解决问题的方法
为了解决上述问题而进行深入研究时发现:LHf(NR1R2)3表示的化 合物富有稳定性,而且还容易气化,通过化学气相生长方法或原子层 控制生长方法可以形成高品质的铪系薄膜。
基于上述知识实现了本发明。
即,上述问题通过一种化合物得到解决,该化合物的特征在于: 以下述通式[I]表示。
上述问题特别是通过下述化合物得到解决,该化合物的特征在 于:在通式[I]中,L为环戊二烯基、甲基环戊二烯基或乙基环戊二烯 基;R1、R2为甲基或乙基。
上述问题还通过形成铪系薄膜的材料得到解决,该材料用于形成 铪系薄膜,其特征在于:是下述通式[I]表示的化合物。
上述问题还通过形成铪系薄膜的材料得到解决,该材料用于形成 铪系薄膜,其特征在于:含有下述通式[I]表示的化合物和溶解上述化 合物的溶剂。
通式[I]:
LHf(NR1R2)3
其中,L为环戊二烯基或取代的环戊二烯基;R1、R2为烷基,R1和R2彼此不同或相同。
上述问题特别是通过形成铪系薄膜的材料得到解决,该材料为上 述形成铪系薄膜的材料,其特征在于:上述通式[I]中,L为环戊二烯 基、甲基环戊二烯基或乙基环戊二烯基,且R1、R2为甲基或乙基。上 述问题通过形成铪系薄膜的材料得到解决,该材料的特征在于:其中 上述通式[I]的化合物为CpHf(NMe2)3、(MeCp)Hf(NMe2)3、 (EtCp)Hf(NMe2)3、CpHf(NMeEt)3[Cp=环戊二烯基、MeCp=甲基环 戊二烯基、EtCp=乙基环戊二烯基、Me=甲基、Et=乙基]。
上述问题还通过形成铪系薄膜的材料得到解决,该材料为上述形 成铪系薄膜的材料,其中溶剂为一种或两种以上选自碳原子数为5~40 (特别是15以下)的烃系化合物和碳原子数为2~40(特别是20以下)的胺 系化合物的化合物。
上述形成铪系薄膜的材料特别是用于通过化学气相生长方法或 原子层控制生长方法形成铪系薄膜的材料。
上述问题还通过形成铪系薄膜的方法得到解决,该方法的特征在 于:使用上述形成铪系薄膜的材料,利用化学气相生长方法于基板上 形成铪系薄膜。
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