[发明专利]P-N结二极管及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200680043427.3 申请日: 2006-08-17
公开(公告)号: CN101313408A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: S-H·戴;Y-C·金;C-J·黄;L·C·高 申请(专利权)人: 维谢综合半导体有限责任公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L21/329;H01L29/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 陈松涛;王英
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 二极管 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1、一种面层注入二极管,其包括:P+衬底,在该衬底的顶表面附近利 用N型掺杂剂面层注入物对该衬底进行注入,制造出P-区域;邻近所述P- 区域且在其上层叠的氧化物掩模,从所述P-区域的一部分部分地蚀刻掉所 述氧化物掩模,制造出蚀刻区域;注入到所述蚀刻区域中以在所述P+衬底 之上且邻近所述P-区域制造出N+区域的N型主结注入物;以及层叠在所述 氧化物掩模和所述蚀刻区域之上的金属。

2、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其被构造为表面安装或通 孔安装器件。

3、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其是通过单次的掩蔽来制 造的。

4、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其中在所述衬底的顶表面 附近减小所述P+衬底的掺杂浓度。

5、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其中掺杂剂面层减小了P-N 结的边角电场。

6、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其导致电场聚集在所述蚀 刻区域附近。

7、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其中所述衬底为0.001~ 0.1Ω-CM的掺硼晶片。

8、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其中所述N型掺杂剂面层 注入物为砷。

9、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其中所述氧化物掩模为湿 式氧化物掩模。

10、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其中所述N型主结注入 物为砷。

11、根据权利要求1所述的面层注入二极管,还包括邻近所述衬底的 金属电极,其与层叠在所述氧化物掩模和蚀刻区域之上的金属电极相对。

12、根据权利要求1所述的面层注入二极管,其中所述衬底掺杂有硼。

13、一种制造二极管的方法,包括:在P+衬底的顶表面附近注入N型 掺杂剂面层注入物,制造出P-区域;邻近所述P-区域且在其上层叠氧化物 掩模;蚀刻掉一部分所述掩模,制造出蚀刻区域;向所述蚀刻区域的所述 P-区域中注入N型主结注入物,在所述P+衬底之上且邻近所述P-区域制造 出N+区域;以及在所述氧化物掩模和所述蚀刻区域之上层叠金属,由此以 一道掩模工艺制造二极管。

14、根据权利要求13所述的方法,其中以大约80Kev、1*1012~1*1015cm-2对N型掺杂剂面层注入物进行注入。

15、根据权利要求13所述的方法,其中以大约80Kev、1*1015~1*1017cm-2对N型主结注入物进行注入。

16、根据权利要求13所述的方法,其中利用砷进行对N型掺杂剂面层 注入物的注入。

17、根据权利要求13所述的方法,其中利用砷进行对N型主结注入物 的注入。

18、根据权利要求13所述的方法,还包括在所述衬底下方层叠金属。

19、根据权利要求13所述的方法,还包括封装所述二极管以在电路中 使用。

20、根据权利要求13所述的方法,还包括利用硼对所述衬底进行注入 以制作所述P+衬底。

21、一种瞬变电压抑制器件,其包括:P+衬底,在所述衬底的顶表面 附近利用N型掺杂剂面层注入物进行注入,制造出P-区域;邻近所述P-区 域且在其上层叠的氧化物掩模,从所述P-区域的一部分部分地蚀刻掉所述 氧化物掩模,制造出蚀刻区域;注入到所述蚀刻区域中以在所述P+衬底之 上且邻近所述P-区域制造出N+区域的N-型主结注入物;层叠在所述氧化物 掩模和所述蚀刻区域之上的金属;电连接到所述金属的连接器端子;以及 电连接到所述衬底的连接器端子,由此制造出边角电场减小的电压抑制器 件。

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