[发明专利]使用引线框和夹片的半导体管芯封装及制造方法无效

专利信息
申请号: 200680043074.7 申请日: 2006-10-24
公开(公告)号: CN101495014A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: E·V·R·克鲁兹;E·卡巴霍格;T·C·塞;V·艾耶 申请(专利权)人: 费查尔德半导体有限公司
主分类号: A47G1/10 分类号: A47G1/10
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 刘 佳
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 使用 引线 半导体 管芯 封装 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体封装的夹片结构,所述夹片结构包括:

具有水平表面的主要部分;

从所述主要部分的水平表面延伸出来的多个基座;

下移设置部分;以及

引线部分,

其中所述下移设置部分在所述引线部分和所述主要部分之间。

2.如权利要求1所述的夹片结构,其特征在于,所述夹片结构是源极 夹片结构或栅极夹片结构。

3.如权利要求1所述的夹片结构,其特征在于,所述下移设置部分包 括阶梯式构造。

4.一种半导体管芯封装,包括:

如权利要求1所述的夹片结构;

与所述夹片结构耦合的半导体管芯;以及

至少部分地覆盖所述夹片结构和所述半导体管芯的铸模材料。

5.如权利要求4所述的半导体管芯封装,其特征在于,进一步包括引 线框结构,其中所述半导体管芯在所述引线框结构与所述夹片结构之间。

6.如权利要求4所述的半导体管芯封装,其特征在于,所述半导体管 芯包括垂直功率MOSFET。

7.一种半导体管芯封装,包括:

夹片结构,包括具有水平表面的主要部分、从所述主要部分的水平表 面延伸出来的多个基座、下移设置部分、以及引线部分,其中所述下移设 置部分在所述引线部分与所述主要部分之间,且具有阶梯式构造;

引线框结构;以及

半导体管芯,

其中所述半导体管芯在所述引线框结构与所述夹片结构之间。

8.如权利要求7所述的半导体管芯封装,其特征在于,进一步包括覆 盖所述夹片结构、所述引线框结构、以及所述半导体管芯的至少一部分的 铸模材料。

9.如权利要求7所述的半导体管芯封装,其特征在于,所述半导体管 芯封装是MLP(微引线框封装),并且所述半导体管芯包括垂直功率 MOSFET。

10.一种形成半导体管芯封装的方法,所述方法包括:

获得包括具有水平表面的主要部分、从所述主要部分的水平表面延伸 出来的多个基座、下移设置部分、以及引线部分的夹片结构,其中所述下 移设置部分在所述引线部分与所述主要部分之间;

获得半导体管芯;以及

将所述夹片结构附着到所述半导体管芯,其中所述多个基座面对所述 半导体管芯。

11.如权利要求10所述的方法,其特征在于,进一步包括:

将所述半导体管芯附着到引线框结构;以及

在所述半导体管芯周围浇铸铸模材料。

12.一种形成半导体管芯封装的方法,所述方法包括:

获得包括具有水平表面的主要部分、从所述主要部分的水平表面延伸 出来的多个基座、下移设置部分、以及引线部分的夹片结构,其中所述下 移设置部分在所述引线部分与所述主要部分之间,且包括阶梯式构造;

获得半导体管芯;以及

将所述夹片结构附着到所述半导体管芯。

13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,所述方法包括:

将所述半导体管芯附着到引线框结构;以及

在所述半导体管芯周围浇铸铸模材料。

14.一种制造半导体管芯封装的方法,所述方法包括:

获得夹片组件,所述夹片组件包括具有水平表面的主要部分、从所述 主要部分的水平表面延伸出来的多个基座、下移设置部分、以及引线部分 的夹片结构,其中所述下移设置部分在所述引线部分与所述主要部分之间;

获得与至少一个对准结构相关联的引线框结构,其中所述对准结构在 装配半导体管芯封装期间将所述夹片组件与所述引线框结构对准;

将半导体管芯的第二表面附着到所述引线框结构;以及

将所述半导体管芯的第一表面附着到所述夹片组件。

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