[发明专利]使用引线框和夹片的半导体管芯封装及制造方法无效
| 申请号: | 200680043074.7 | 申请日: | 2006-10-24 |
| 公开(公告)号: | CN101495014A | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
| 发明(设计)人: | E·V·R·克鲁兹;E·卡巴霍格;T·C·塞;V·艾耶 | 申请(专利权)人: | 费查尔德半导体有限公司 |
| 主分类号: | A47G1/10 | 分类号: | A47G1/10 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 刘 佳 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 使用 引线 半导体 管芯 封装 制造 方法 | ||
1.一种半导体封装的夹片结构,所述夹片结构包括:
具有水平表面的主要部分;
从所述主要部分的水平表面延伸出来的多个基座;
下移设置部分;以及
引线部分,
其中所述下移设置部分在所述引线部分和所述主要部分之间。
2.如权利要求1所述的夹片结构,其特征在于,所述夹片结构是源极 夹片结构或栅极夹片结构。
3.如权利要求1所述的夹片结构,其特征在于,所述下移设置部分包 括阶梯式构造。
4.一种半导体管芯封装,包括:
如权利要求1所述的夹片结构;
与所述夹片结构耦合的半导体管芯;以及
至少部分地覆盖所述夹片结构和所述半导体管芯的铸模材料。
5.如权利要求4所述的半导体管芯封装,其特征在于,进一步包括引 线框结构,其中所述半导体管芯在所述引线框结构与所述夹片结构之间。
6.如权利要求4所述的半导体管芯封装,其特征在于,所述半导体管 芯包括垂直功率MOSFET。
7.一种半导体管芯封装,包括:
夹片结构,包括具有水平表面的主要部分、从所述主要部分的水平表 面延伸出来的多个基座、下移设置部分、以及引线部分,其中所述下移设 置部分在所述引线部分与所述主要部分之间,且具有阶梯式构造;
引线框结构;以及
半导体管芯,
其中所述半导体管芯在所述引线框结构与所述夹片结构之间。
8.如权利要求7所述的半导体管芯封装,其特征在于,进一步包括覆 盖所述夹片结构、所述引线框结构、以及所述半导体管芯的至少一部分的 铸模材料。
9.如权利要求7所述的半导体管芯封装,其特征在于,所述半导体管 芯封装是MLP(微引线框封装),并且所述半导体管芯包括垂直功率 MOSFET。
10.一种形成半导体管芯封装的方法,所述方法包括:
获得包括具有水平表面的主要部分、从所述主要部分的水平表面延伸 出来的多个基座、下移设置部分、以及引线部分的夹片结构,其中所述下 移设置部分在所述引线部分与所述主要部分之间;
获得半导体管芯;以及
将所述夹片结构附着到所述半导体管芯,其中所述多个基座面对所述 半导体管芯。
11.如权利要求10所述的方法,其特征在于,进一步包括:
将所述半导体管芯附着到引线框结构;以及
在所述半导体管芯周围浇铸铸模材料。
12.一种形成半导体管芯封装的方法,所述方法包括:
获得包括具有水平表面的主要部分、从所述主要部分的水平表面延伸 出来的多个基座、下移设置部分、以及引线部分的夹片结构,其中所述下 移设置部分在所述引线部分与所述主要部分之间,且包括阶梯式构造;
获得半导体管芯;以及
将所述夹片结构附着到所述半导体管芯。
13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,所述方法包括:
将所述半导体管芯附着到引线框结构;以及
在所述半导体管芯周围浇铸铸模材料。
14.一种制造半导体管芯封装的方法,所述方法包括:
获得夹片组件,所述夹片组件包括具有水平表面的主要部分、从所述 主要部分的水平表面延伸出来的多个基座、下移设置部分、以及引线部分 的夹片结构,其中所述下移设置部分在所述引线部分与所述主要部分之间;
获得与至少一个对准结构相关联的引线框结构,其中所述对准结构在 装配半导体管芯封装期间将所述夹片组件与所述引线框结构对准;
将半导体管芯的第二表面附着到所述引线框结构;以及
将所述半导体管芯的第一表面附着到所述夹片组件。
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