[发明专利]增强半导体封装件的耐震性无效

专利信息
申请号: 200680042314.1 申请日: 2006-11-14
公开(公告)号: CN101310383A 公开(公告)日: 2008-11-19
发明(设计)人: R·N·曼帕利;S·阿格拉哈拉姆 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H01L23/485 分类号: H01L23/485;H01L21/60
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥夌;刘春元
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 增强 半导体 封装 耐震
【权利要求书】:

1.一种用于制造半导体封装件的方法,其中包括:

形成芯层,所述芯层的两面有金属层,所述芯层包含若干钻孔, 所述金属层也包含若干孔;

扩展所述金属层之一中的孔而超过所述芯层中的孔,从而形成扩 展部;

在所述扩展部中提供弹性材料,所述弹性材料具有端子并用于减 缓震动负荷;以及

在所述弹性材料与所述端子之间形成接触部。

2.如权利要求1所述的方法,其中,包括在所述接触部上表面安 装焊球形式的端子。

3.如权利要求1所述的方法,其中,包括形成包含所述材料的芯 片级封装件。

4.如权利要求3所述的方法,其中,包括在电路板上安装所述芯 片级封装件。

5.如权利要求4所述的方法,其中,包括设置具有接触部的电路 板并在所述接触部上表面安装焊球。

6.如权利要求4所述的方法,其中,包括在所述电路板中的所述 接触部之下设置所述材料。

7.一种半导体封装件,其中包括:

封装结构,其具有芯层,所述芯层的两面有金属层,所述芯层包 含若干钻孔,所述金属层也包含若干孔,所述金属层之一中的孔扩展 而超过所述芯层中的孔,从而形成扩展部;

与所述结构连接的端子;以及

在所述结构与所述端子之间的弹性材料。

8.如权利要求7所述的半导体封装件,其中,所述封装件是一种 芯片级封装件。

9.如权利要求7所述的半导体封装件,其中,所述端子是焊球。

10.如权利要求7所述的半导体封装件,其中,所述弹性材料在 室温下具有小于3000兆帕的杨氏模量。

11.如权利要求7所述的半导体封装件,进而被安装到电路板上。

12.如权利要求11所述的半导体封装件,其中,所述电路板包含 一种弹性材料,所述端子和所述封装件被电性固定在所述电路板上。

13.如权利要求7所述的半导体封装件,其中,所述弹性材料在 所述扩展部内。

14.如权利要求13所述的半导体封装件,其中,包括位于所述弹 性材料与所述端子之间的接触部。

15.一种用于增强耐震性的系统,其中包括:

电路板;以及

与所述电路板电性连接的经封装的集成电路,所述经封装的集成 电路包含端子、封装结构以及位于所述端子与所述封装结构之间的弹 性材料,

其中所述封装结构具有芯层,所述芯层的两面有金属层,所述芯 层包含若干钻孔,所述金属层也包含若干孔,所述金属层之一中的孔 扩展而超过所述芯层中的孔,从而形成扩展部。

16.如权利要求15所述的系统,其中,所述经封装的集成电路是 处理器。

17.如权利要求15所述的系统,其中,包括所述电路板中的弹性 材料。

18.如权利要求15所述的系统,其中,所述弹性材料在室温下具 有小于3000兆帕的杨氏模量。

19.如权利要求15所述的系统,其中,所述端子是焊球。

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