[发明专利]利用短路棒和高频时钟信号检验具有集成驱动器IC的TFT－LCD的阵列测试

说明书

相关申请的交叉引用

本申请与2005年11月15日提交的、题为″Array Test Using The Shorting Bar And High Frequency Clock Signal For The Inspection Of TFT-LCD With Integrated Driver IC(利用短路棒和高频时钟信号检验 具有集成驱动器IC的TFT-LCD的阵列测试)″的第60/737,090号美国 临时申请相关，并根据35USC 119(e)要求该美国临时申请的优先权， 该美国临时申请的全部内容通过引用而并入本文。

发明背景

本发明一般涉及薄膜晶体管(TFT)阵列的检验，更具体地涉及 对具有集成电路(IC)驱动器的TFT阵列的检验。

在成品液晶平板中，液晶(LC)材料的薄层设置在两片玻璃之间。 在一片玻璃上，已经对二维阵列的电极进行构图。每个电极的尺寸为 100微米量级，并且能够通过沿面板边缘设置的多路晶体管而在电极 上施加独特的电压。在成品中，由每个单独的电极产生的电场均耦合 到LC材料中，并对在像素化的区域中传输的光的数量进行调制。当 总计对整个二维阵列生效时，这种效力在平板上产生可视图像。

在将LC材料注入上层和下层玻璃板之间时，产生了与LCD面板 相关的很大一部分生产成本。因此，在上述生产步骤之前识别并纠正 任何图像质量问题是很重要的。在沉积液晶(LC)材料之前检验LCD 面板的问题在于，没有LC材料便没有可用来检验的可视图像。在沉 积LC材料之前，如果由外部电源驱动，则在给定的像素上呈现的唯 一信号是由该像素上的电压产生的电场。测试这种面板阵列的装置通 常利用像素的电学性质(例如作为晶体管栅极或数据线上的变化的驱 动电压的函数的电场或像素电压)。如第4,983,911号美国专利所描述 的那样，由Photon Dynamics设计的阵列测试器使用电压图像光学系 统(VIOS)。由Applied Komatsu出售的阵列测试器使用电子束和成像 系统来检测缺陷。上述两种阵列测试器都需要与其各自的检测方法工 艺结合的装置来对样品进行电驱动。

授权给Henley等人并且通过引用而全部并入本文的第5,081,687 号美国专利描述了一种阵列测试方法，根据该方法将电驱动信号的模 式应用于所测试的面板。参照图1，其中示出通常的有源矩阵LCD面 板部分10包括像素12的阵列。每个像素12均通过同时对适当的驱动 线14和栅极线16进行定址来激活。驱动元件18与每个像素相关联。 驱动线14、栅极线16、像素12和像素驱动元件18通过平版印刷或其 它工艺而沉积在光亮的玻璃衬底上。奇数编号的栅极线可以通过每隔 一个栅极线16连接的短路棒(shorting bar)30而同时定址。偶数编 号的栅极线可以通过第二短路棒(未示出)来定址。同样，奇数编号 的数据线可以通过每隔一个数据线14连接的短路棒28来定址。偶数 编号的数据线可以通过第二短路棒(未示出)来定址。可以将不同的 驱动模式应用于栅极线和数据线上，以确定那些像素是有缺陷的。

通常，在将面板制造和装配成其最终形式(例如，电脑监视器、 手机显示器、电视机等)时，加入最终显示板的电驱动电路。图2示 出了面板200，其利用多个连接器204与印刷电路板204电连接。假 定图2中的面板200包括图1中示出的电路。栅极驱动器集成电路(IC) (未示出)安装在印刷电路板204上，然后使印刷电路板204与面板 200电接触以驱动像素栅极线。

然而，最近随着非晶硅材料与相关工艺和设计的应用的增加，集 成电路(IC)栅极驱动器在面板上形成，如图3所示。例如，参见SID 05Diges第939页Kim等人的″High-Resolution Integrated a-Si Row Drivers(高分辨率集成的Si列驱动器)″；SID 05Digest第950页上 Lebrun等人的″Design of Integrated Drivers with Amorphous Silicon TFTs for Small Displays，Basic Concepts(用于小显示器的具有非晶硅 TFT的集成驱动器的设计、基本原理)″。

发明内容