[发明专利]利用短路棒和高频时钟信号检验具有集成驱动器IC的TFT-LCD的阵列测试有效
| 申请号: | 200680039322.0 | 申请日: | 2006-11-15 |
| 公开(公告)号: | CN101292168A | 公开(公告)日: | 2008-10-22 |
| 发明(设计)人: | 全明铁;阿提拉·埃尔沙欣;巴里·麦金利;萨巴瑞·桑吉维 | 申请(专利权)人: | 光子动力学公司 |
| 主分类号: | G01R31/08 | 分类号: | G01R31/08;G01R31/00;G06K9/00;G02F1/1343 |
| 代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余朦;王艳春 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 利用 短路 高频 时钟 信号 检验 具有 集成 驱动器 ic tft lcd 阵列 测试 | ||
1.一种用于测试平板显示器的方法,所述平板显示器包括其中形 成有IC栅极驱动器的有源阵列矩阵衬底,所述方法包括:
将第一短路棒耦合至设置在所述驱动器集成电路中的N个连续移 位寄存器的多个第一时钟输入终端;
将第二短路棒耦合至所述N个连续移位寄存器的多个第二时钟输 入终端;
将第三短路棒耦合至所述N个连续移位寄存器以向所述N个连续 移位寄存器提供电压;
将启动信号施加至第一移位寄存器的启动终端以启动所述第一移 位寄存器;
将第(i-1)移位寄存器的输出终端耦合至第i移位寄存器的启动 终端,以使得所述第(i-1)移位寄存器的输出脉冲用作所述第i移位 寄存器的启动信号,其中i是从2到N之间的整数;
将第一时钟信号施加至所述第一短路棒;
将第二时钟信号施加至所述第二短路棒,所述第二时钟信号相对 于所述第一时钟信号具有180度的相移;
将所述N个连续移位寄存器的输出施加至IC栅极驱动器上,并 且通过数据短路棒或单独的数据线施加到数据线上;以及
检测第一结果显示图案与预期的显示图案之间的差别。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述预期的显示图案包括预期 的图像数据,所述方法进一步包括:
对所述第一结果显示图案的一部分进行成像,以产生感测的图像 数据;以及
将所述感测的图像数据与所述预期的图像数据进行比较,以检测 二者之间的差别。
3.如权利要求1所述的方法,进一步包括:
将第四短路棒耦合至奇数数据线;
将第五短路棒耦合至偶数数据线;
将第一数据信号施加至所述第四短路棒;以及
将第二数据信号施加至所述第五短路棒。
4.一种用于测试平板显示器的装置,所述平板显示器包括其中形 成有IC栅极驱动器的有源阵列矩阵衬底,所述装置包括:
第一短路棒,其适于耦合至设置在所述驱动器集成电路中的N个 连续移位寄存器的多个第一时钟输入终端;
第二短路棒,其适于耦合至所述N个连续移位寄存器的多个第二 时钟输入终端;其中,启动信号被施加至第一移位寄存器的启动终端 以启动所述第一移位寄存器,且第(i-1)移位寄存器的输出终端被耦 合至第i移位寄存器的启动终端,以使得所述第(i-1)移位寄存器的 输出脉冲用作所述第i移位寄存器的启动信号,其中i是从2到N之 间的整数;
第三短路棒,其适于耦合至所述N个连续移位寄存器以向所述N 个连续移位寄存器提供电压;
用于将所述N个连续移位寄存器的输出施加至IC栅极驱动器上、 并且通过数据短路棒或单独的数据线施加到数据线上的装置;
用于对结果显示图案进行成像以产生感测的图像数据的装置;以 及
用于检测所述结果显示图案与预期的显示图案之间差别的装置。
5.如权利要求4所述的装置,其中所述预期的显示图案包括预期 的图像数据,所述装置进一步包括:
用于对所述结果显示图案的一部分进行成像以产生感测的图像数 据的装置;以及
将所述感测的图像数据与所述预期的图像数据进行比较、以检测 二者之间差别的装置。
6.如权利要求4所述的装置,进一步包括:
第四短路棒,其耦合至奇数数据线并适于接收第一数据信号;以 及
第五短路棒,其耦合至偶数数据线并适于接收第二数据信号。
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