[发明专利]使用检验指示的电路设计校验

说明书

技术领域

本发明通常涉及电路设计校验，更具体地说，涉及使用检验指示的电路设计校验。

背景技术

在实际生产制造之前通常要校验(即测试)所产生的电路设计。一般，通过在计算机(未示出)上运行模拟程序来校验电路设计，在此期间，将不同的输入(称为激励)依次施加到电路设计上，并收集在电路输出上和在电路设计的不同结点上的信号，并将这些信号与期望值相比较。如果出现失配，就认为电路设计是有缺陷的并且必须重新设计。不同激励的数量可以非常大，于是，用所有可能的激励来测试电路设计的时间将会很长。因而，需要一种比先前的工艺技术花费更短时间的校验电路设计的方法。

发明内容

本发明提出了电路设计的校验方法，该方法包括提出电路设计；为电路设计建立激励树图，其中，激励树图包括L个激励，在此，L是大于4的整数，激励树图还包括M个检查点分叉，在此，M是大于1的整数，其中激励树图还包括N个非检验指示分叉，N是非负数的整数；执行激励树图，在此，所述执行激励树图的操作包括，在i＝1，...，M的情况下，执行M个检验指示分叉中的第i个检验指示分叉，其中，执行第i个检验指示分叉包括保存第i个激励环境中的第i个上下文，并在此环境中执行激励树图；在进行了所述保存第i个上下文的操作之后，从第i个上下文开始，沿着从第i个检验指示分叉上分支出来的激励树图的Pi个路径来执行，其中，第i个检验指示分叉是Pi路(Pi-way)分叉，Pi是大于1的整数。

本发明也提供了一个方法，此法包括用计算机系统处理器来执行算法，该算法由存储在机读介质上的计算机代码组成，所述计算机可读介质与处理器相连，所述执行所述算法包括执行电路设计的激励树图的步骤，其中，激励树图包括L个激励，L是大于4的整数，其中，激励树图还包括M个检验指示分叉，其中M是大于1的整数，其中，激励树图还包括N个非检验指示分叉，N是非负数的整数，其中，所述执行激励树图的操作包括，在i＝1，...，M的情况下，执行M个检验指示分叉的第i个检验指示分叉，其中，执行第i个检验指示分叉包括保存第i个模拟环境中的第i个上下文，在此环境中进行所述执行激励树图的操作；在进行了所述保存第i个上下文之后，从第i个上下文开始，沿着从第i个检验指示分叉上分支出来的激励树图的Pi个路径来执行，其中，第i个检验指示分叉是Pi路分叉，Pi是大于1的整数。

本发明也提供了一个计算机程序产品，该产品包含具有其中嵌埋了机读程序代码的计算机可用介质，所述机读程序代码包括适用于执行电路设计的校验方法的算法，所述方法包括执行电路设计激励树图的步骤，其中，激励树图包括L个激励，L是大于4的整数，其中，激励树图还包括M个检验指示分叉，其中M是大于1的整数，其中，激励树图还包括N个非检验指示分叉，N是非负数的整数，其中，所述执行激励树图的操作包括，在i＝1，...，M的情况下，执行M个检验指示分叉的第i个检验指示分叉，其中，执行第i个检验指示分叉包括保存第i个模拟环境的第i个上下文，在此模拟环境中进行所述执行激励树图的操作；在进行了所述保存第i个上下文之后，从第i个上下文开始，沿着从第i个检验指示分叉上分支出来的激励树图的Pi个路径来执行，其中，第i个检验指示分叉是Pi路分叉，Pi是大于1的整数。

本发明也提供了电路设计的校验方法，该方法包括将机读代码集成到计算机系统中，其中，与计算机系统相组合的代码能够进行执行电路设计的激励树图的步骤，其中，激励树图包括L个激励，L是大于4的整数，其中，激励树图还包括M个检验指示分叉，M是大于1的整数，其中，激励树图还包括N个非检验指示分叉，N是非负数的整数，其中，所述执行激励树图的操作包括，在i＝1，...，M的情况下，执行M个检验指示分叉中的第i个检验指示分叉，其中，执行第i个检验指示分叉包括保存第i个模拟环境的第i个上下文，在此模拟环境中进行所述执行激励树图；在进行了所述保存第i个上下文之后，从第i个上下文开始，沿着从第i个检验指示分叉上分支出来的激励树图的Pi个路径来执行，其中，第i个检验指示分叉是Pi路分叉，Pi是大于1的整数。