[发明专利]使用检验指示的电路设计校验

权利要求书

1. 一种设计的校验方法，包括：

提供电路设计；

产生电路设计的激励树图，

其中，激励树图包含L个激励，L是大于4的整数，

其中，激励树图还包含M个检验指示分叉，M是大于1的整数，

执行激励树图，其中，所述执行激励树图包括，对i＝1，...，M，执行M个检验指示分叉中的第i个检验指示分叉，其中，所述执行第i个检验指示分叉又包括：

保存第i个模拟环境中的第i个上下文，在此模拟环境中进行所述执行激励树图的操作；

在进行了所述保存第i个上下文的操作之后，从第i个上下文开始，沿着从第i个检验指示分叉上分支出来的激励树图的Pi个路径来执行，其中，第i个检验指示分叉是Pi路分叉，Pi是大于1的整数。

2. 如权利要求1的方法，其中，激励树图还包含N个非检验指示分叉，N是非负数的整数；并且

其中，所述执行激励树图还包括，对h＝1，...，N，执行N个非检验指示分叉中的第h个非检验指示分叉，其中，所述执行第h个非检验指示分叉的操作包括：

随机产生Qh个可能值中的一个值，其中，第h个非检验指示分叉是Qh路分叉，Qh是大于1的整数。

沿着从第h个非检验指示分叉上分支出来的激励树图的Qh个路径中的一个路径继续执行，其中，所述一个路径与随机产生的值相关联。

3. 如权利要求1的方法，其中，所述执行激励树图的操作还包括，对j＝1，...，L，执行第j项工作，所述执行第j项工作的操作包括：

产生L个激励中的第j个激励；

将所述第j个激励施加到电路设计上；

响应被施加到电路设计上的所述第j个激励，产生电路设计的第j个输出；

产生所述第j个激励的第j个期望值；

比较所述第j个输出和所述第j个激励的第j个期望值；

如果所述第j个输出和所述第j个激励的第j个期望值彼此不同，就将电路设计是有缺陷的指示作为所述比较的结果。

4. 如权利要求3的方法，其中，顺序地进行所述执行第1至第L项的工作。

5. 如权利要求3的方法，其中，非顺序地进行所述执行第1至第L项的工作。

6. 如权利要求1的方法，其中，N＝0。

7. 如权利要求1的方法，其中，N＞0。

8. 如权利要求1的方法，

其中，所述执行第i个检验指示分叉还包括在检验点队列中放置Pi个项，并且

其中，所述从第i个上下文开始沿着Pi个路径的执行包括，对k＝1，...，Pi，根据在检验点队列中Pi个项中的第k项，从第i个上下文开始沿着Pi个路径中的第k个路径来执行。

9. 如权利要求8的方法，其中，顺序地进行所述从第i个上下文开始沿着第1到第Pi个路径的执行。

10. 如权利要求8的方法，其中，非顺序地进行所述从第i个上下文开始沿着第1到第Pi个路径的执行。

11. 如权利要求8的方法，其中，在检验点队列中Pi个项的每一项都一对一地与Pi个路径中的路径相关联。

12. 如权利要求8的方法，其中，在检验点队列中Pi个项的每一项都与第i个模拟环境的第i个上下文相关联。

13. 如权利要求1的方法，其中，通过计算机模拟来进行所述执行激励树图的操作。

14. 如权利要求1的方法，还包括：响应于已经进行的激励树图的所有激励覆盖路径，指示电路设计校验的完成。

15. 一种系统，包括适于按照任何前述方法权利要求实施所述方法的所有步骤的装置。

16. 一种计算机程序，包括：所述计算机程序在计算机系统上执行时，按照任何前述方法权利要求实施所述方法的所有步骤的指令。