[发明专利]半导体装置、测试模式控制电路

权利要求书

1、一种半导体装置，具有测试模式，其特征在于，包括：

非易失性存储器，在规定地址记忆控制码；

产生单元，产生固定值；以及

控制单元，按照所述控制码和所述固定值之间的汉明距离是否在规定数以下，控制向所述测试模式的转移。

2、如权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，

所述控制单元，包括：

算出单元，算出所述控制码和由所述产生单元产生的固定值之间的汉明距离；

比较单元，通过对所算出的汉明距离和所述规定数进行比较，从而判断汉明距离是否所述规定数以下；以及

禁止单元，在判断为汉明距离是规定数以下时，禁止向测试模式的转移。

3、如权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，

在所述控制码中，附加用于校正所述规定数以下的数的位错误的错误校正码，

所述控制单元，包括：

错误校正单元，使用错误校正码对所述控制码进行错误校正处理；

比较单元，对错误校正处理后的控制码和由所述产生单元产生的固定值进行比较，来判断是否一致；以及

禁止单元，在判断为一致时，禁止向测试模式的转移。

4、如权利要求1至3中的任一项所述的半导体装置，其特征在于，

所述半导体装置，还包括：

寄存器，用于保持数据；

第一设定单元，在所述半导体装置的复位时，作为初始值在寄存器设定所述固定值；以及

第二设定单元，在所述半导体装置的复位后，从所述非易失性存储器中读出所述控制码，并设定到所述寄存器，

所述控制单元，按照所述寄存器所保持的数据和所述固定值之间的汉明距离，控制向所述测试模式的转移。

5、如权利要求1至3中的任一项所述的半导体装置，其特征在于，

所述半导体装置，还包括：写入单元，在所述汉明距离是所述规定数以下时，将所述固定值写入到所述非易失性存储器。

6、如权利要求5所述的半导体装置，其特征在于，

所述半导体装置，还包括：存储器以及微型计算机，所述存储器记忆描述了所述写入单元的功能的程序，所述微型计算机执行所述程序，

所述写入单元，是通过所述微型计算机执行所述程序来实现的。

7、一种测试模式控制电路，设置于具有测试模式的半导体装置中，其特征在于，包括：

非易失性存储器，在规定地址记忆控制码；

产生单元，产生固定值；以及

控制单元，按照所述控制码和所述固定值之间的汉明距离是否在规定数以下，控制向所述测试模式的转移。

8、一种具有测试模式的半导体装置中的测试模式控制方法，其特征在于，包括：

读出步骤，读出在非易失性存储器的规定地址所记忆的控制码；以及

控制步骤，按照所述控制码和所述固定值之间的汉明距离是否在规定数以下，控制向所述测试模式的转移。

9、一种程序，可被具有测试模式的半导体装置内的微型计算机读取，其特征在于，使所述微型计算机执行以下步骤：

读出步骤，读出在非易失性存储器的规定地址所记忆的控制码；以及

控制步骤，按照所述控制码和所述固定值之间的汉明距离是否在规定数以下，控制向所述测试模式的转移。