[发明专利]用作检测重叠基片的方法和设备

说明书

技术领域

本申请针对一种用于检测正移动通过光传感器的重叠基片的方法和设备。尤其是该种方法和设备包含用于把单个的基片传输通过为检测在一连串像这样的单个的基片中出现重叠基片而设计的光传感器的一种通道。

背景技术

在许多单据管理系统中，沿着用于分析和处理的运送路径逐一运送例如钞票、支票、卡片、收据等等的单据。该单据管理系统包含既识别在单据上提供的信息又把这种信息输送到用于确定将如何处理该单据的处理装置的一些传感器。

当在同一时间把二张或更多张单据输送到系统时可能发生一种不希望有的情况。这种情况称之为重合输送单据状态而为了消除这种状态最好是检测这种状态并且剔除这些单据或者重新处理这些单据。

有许多用于检测重合输送单据状态、已知的机械系统和光学系统。一种已知机械技术方法有效地使用机械装置来接触基片而且测定厚度或者在其厚度上的变化。在美国专利3,679,202；美国专利4,550,252和美国专利5,704,246中说明这些技术方法的实施例。基本上，成重合输送单据状态的一些单据的厚度大于某个预定的标准尺度并且产生警报信号或停机信号。这种已知的技术方法难以用于一些薄的单据和/或一些具有可变厚度的单据，通常使用钞票的情况就是这样。例如，在使用钞票的情况下钞票可能起褶痕或者与透明胶带叠合，因此例如使得厚度测定更困难。更进一步，在这些类型机械学上的厚度基本结构的情况下，由于在钞票状态中的振动、磨损、污垢变化和在装置延长使用期间出现的一些其他因素而难以保持测量装置的灵敏度。

例如在美国专利5,341,408；美国专利5,502,312和美国专利5,581,354中所公开的光学双检测系统采用设置在输送单据通道相对两侧的至少一个光发射器和相应的光探测器。光发射器产生透过在通道内的单据的一束光而由光探测器检测所发射的光。光探测器产生为在光发射器和光探测器之间单据的光吸收和光散射的函数的输出信号。用各种各样装置把输出信号校准到与实际接收状态相比较的正常状态。当重合输送单据状态发生时单据的双倍厚度显著减少所接收的光而用在信号中瞬时减小量来测定重合输送单据状态。

这些现有技术重合输送检测系统对不同的纸张、变化的表面彩色图形以及基片中的褶痕和折叠所引起的一些变化是敏感的。由于电路退化、电压对时间的变化和基片在通道内的位置也会出现偏差。由于这些偏差所以这些系统需要对光发射器和光探测器的预先调整信号进行调节。遗憾的是，这些系统有小的动态范围。基本上这些系统是测量透过单据或基片的光量而由于在票据上提供的黑色印记或黑色标识、纸张中大量折叠与褶痕和/或单据在通道里的位置能够引起这种光量显著变化。更进一步，旧而脏的单张单据比二张新单据的重合状态可能更不透光。

美国专利5,222,729公开一种用于检测一些重叠纸张的方法和设备。这种系统采用配置在纸张输送路径上面和下面的激光发射器和光探测器对。把代表纸张的上表面位置和下表面位置的一些电压与一些给定值作比较。如果实际值大大超过给定值，则产生重叠纸张状态信号而且能够采取适当的校正动作。这种技术方法是复杂的而且需要相当多的处理。对既皱又光亮的单据来说难以使用这种方法和设备。

这种简单的检测尤其在没有具体的又耗费操作者时间的复杂情况下能够很快校准的装置中难以实现。并且，美国专利5,222,729难以实现一种既可靠又准确识别重合输送单据状态的检测装置。

本发明力图克服许多这样的不足之处。

发明内容

一种在单个的基片一个接一个移动通过光传感器过程中检测出现的重叠基片的方法包括使各个基片当其移动通过光传感器时置于顶上的相干光之下，在那里一部分光透过基片而被光探测器接收，光探测器产生输出信号，输出信号具有与平均透过基片的光成正比的低频分量和由通过光传感器的基片的粗糙表面和移动产生的高频斑纹闪光分量。这种方法包含监测高频斑纹闪光分量，因为在其强度上的突然下降反映在重叠基片移动通过光传感器时所形成降低的高频分量。

根据本发明的一种状况，该方法包含使用光传感器来测定第一应用阈值作为在没有出现单据时来自光探测器的平均信号的预先调整量而且用第一应用阈值作为测定表示基片正移动通过光传感器的信号上变化的基准。

在本发明的更进一步状况中，该方法包含设定第二应用阈值作为在输送单个的基片通过光传感器期间高频斑纹闪光分量的预先调整量。

在本发明的更进一步状况中，该方法包含对于每个基片来说随着其移动通过光传感器而从第一应用阈值自动转变到第二应用阈值。