[发明专利]光纤的处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及光纤的处理方法。更详细而言，本发明涉及使作为光信号的传送媒体而使用的光纤的抗氢特性提高的处理的方法。

另外，关于承认借由文献的参照而编入的指定国家，通过参照如下所示专利申请的说明书中记载的内容以加入本申请案中，作为本发明的一部分。

专利申请2005-182468号    申请日2005年6月22日

背景技术

在光纤中，起因于光纤的OH基的吸收损耗的峰值(以下称为″WP″)存在于波长1383nm的频带。因此，在将光纤当做传送媒体的光通信中，1400nm附近的频带波长不被作为信号波长使用。但是，作为CWDM等的通信技术，涉及开发喇曼(Raman)放大等技术，要求WP非常小的光纤。

众所周知，在光纤曝露在含氢环境中的时候将增加WP。也就是在光纤里面往往包含Si·(E′中心)、Si-O·(非交联氧保持中心，NBOHC)、Si-O-O·(peroxyl radical)等不少的构造缺陷。与其中的NBOHC扩散的氢结合，形成OH基被认为是氢造成WP增加的机构(mechanism)。当考虑到被敷设的光纤要持续长期使用，则不仅要求初期性能，而且要求在被暴露于含氢环境中暴晒后，也能保持WP小的状态的防氢性能高的光纤。

在专利文献1、专利文献2以及专利文献3中，公开了通过实施暴露在含有重氢气体的环境中的重氢处理来提高光纤的抗氢特性的方法。另外，在非专利文献1中，披露了将光纤暴露在重氢中，以波长1714nm为中心的峰值来观察重氢分子的吸收。

但是，光纤的抗氢特性需通过国际规格IEC 60793-2规定的测试方法来进行评价。在这个测试方法中，首先将作为评价对象的光纤的波长1240nm中的损耗上升到0.03dB/km以上，以暴露在包含1％的氢的室温/常压的气体环境中。接着，将该光纤放置在大气里14天之后测量WP，且与测试前的数值比较。

在上述方法中，使光纤在波长1240nm中的损耗上升到0.03dB/km以上需要3日至7日左右的时间，因此，为评价光纤的抗氢特性大约需要3个星期左右。因而，如上所述的评价方法，不适用于作为工业的光纤生产过程中的产品评价方法。另外，用这种方法，必须由评价对象的光纤切下1公里长以上的测定试料，并且在被评价以后，所切下的评价试料将被废弃。因而产品的实质利用率低，由这一点也不适于工业上的利用。

对此，非专利文献2报告了把光纤暴露于含氢气的气体环境中，则波长630nm附近的吸收峰值将降低。也就是，当测量光纤的损耗的时候，在波长630nm附近有时会发生吸收峰值。可以认为该波长630nm附近的吸收峰值起因于NBOHC。另外，在专利文献4记载了波长630nm的吸收损耗与WP的关系。根据这个关系，通过测量该波长630nm的吸收损耗，被认为可评价该抗氢特性。

但是，专利文献4没有言及对630nm附近的吸收峰值的确定方法。另外，也没有对在含有重氢气体环境中暴露时的630nm附近的吸收峰值的举动做任何记载。在表示光纤的损耗α的如下所示的算式[数1]中，如果考虑到每个光纤可以获得不同的瑞利(Rayleigh)散射係数A，则如果不能决定吸收峰值的确定方法，那么，有时将由于瑞利散射(Rayleigh scattering)系数A的不同而无法有效判断630nm附近的吸收峰值的大小。对此，在专利文献5中，公开了以下的主旨：通过调查波长630nm频带中的损耗的变化，能够确认由于重氢处理的效果而消除了NBOHC。

【数1】

α＝A/λ⁴+α_IM+α_IR(λ)+α_other(λ)

在上式[数1]中，α代表损耗、A代表瑞利散射系数、α_IM表示构造不完全性损耗、α_IR表示红外吸收损耗、α_other代表由于杂质等产生的其他吸收损耗。

【专利文献1】专利第1721913号

【专利文献2】英国专利申请公开第2149392号说明书

【专利文献3】欧州专利申请公开第1182176号说明书

【专利文献4】特开平9-132430号公报

【专利文献5】特开2004-317750号公报

【非专利文献1】IEE PROCEEDINGS，Vo1.132，Pt.J，No.3，JUNE 1985，pp.172-176

【非专利文献2】OFC1999，PD22-1

发明内容