[发明专利]高反射镜及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200680010130.7 申请日: 2006-02-02
公开(公告)号: CN101151557A 公开(公告)日: 2008-03-26
发明(设计)人: 森本保;进奈绪子;川崎正人;宫泽英明 申请(专利权)人: 旭硝子株式会社
主分类号: G02B5/08 分类号: G02B5/08;C23C14/06;G02F1/1335;G02F1/13357
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 沙永生
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 反射 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种高反射镜,它是基板上设有银膜的高反射镜,其特征在于,在所述高反射镜的最表面形成以碳为主成分的膜作为保护膜,并且所述以碳为主成分的膜的消光系数在0.1以下。

2.如权利要求1所述的高反射镜,其特征在于,在所述银膜的基板侧形成基底膜。

3.如权利要求2所述的高反射镜,其特征在于,所述基底膜是氧化物膜,通过溅射法形成,并且溅射法中的溅射气体实质上不包含氧化性气体。

4.如权利要求2或3所述的高反射镜,其特征在于,所述基底膜是氧化钛膜,并且该氧化钛膜由缺氧靶形成。

5.如权利要求1至4中任一项所述的高反射镜,其特征在于,所述以碳为主成分的膜通过溅射法形成,并且溅射法中的溅射气体实质上不包含氧化性气体。

6.如权利要求1至5中任一项所述的高反射镜,其特征在于,所述基底膜的物理膜厚是1~50nm,所述银膜的物理膜厚是60~300nm,并且所述碳膜的物理膜厚是2~20nm。

7.一种高反射镜的制造方法,其特征在于,在基板上(1)在溅射气体中实质上不包含氧化性气体的条件下,由溅射法形成基底膜;(2)由溅射法形成银膜;(3)在溅射气体实质上不包含氧化性气体的条件下,由溅射法在最表面形成以碳为主成分的膜作为保护膜。

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