[发明专利]光检测电路

权利要求书

1.一种光检测电路，其特征在于，

所述光检测电路具有选择地对多个受光电路的输出进行加法运算的加法器，

各个所述受光电路具有：

光检测元件；

受光用跨阻放大器，在第1输入端子上连接有所述光检测元件；

跨导放大器，在第1输入端子上连接有所述受光用跨阻放大器的输出端子；

反馈电路，连接在所述受光用跨阻放大器的所述输出端子和所述受光用跨阻放大器的所述第1输入端子之间，进行用于使所述受光用跨阻放大器的输出电压保持为一定的反馈。

2.如权利要求1所述的光检测电路，其特征在于，

所述反馈电路包括：

反馈用误差放大器，在第1输入端子上连接有所述受光用跨阻放大器的所述输出端子，并在第2输入端子上输入有受光用基准电压；

平滑电路，在输入端子上连接有所述反馈用误差放大器的输出端子；

反馈用晶体管，在控制端子上连接有所述平滑电路的输出端子，并在与所述光检测元件相连接的端子上连接有所述受光用跨阻放大器的所述第1输入端子。

3.如权利要求1所述的光检测电路，其特征在于，

所述反馈电路包括：

反馈用误差放大器，在第1输入端子上连接有所述受光用跨阻放大器的所述输出端子，并在第2输入端子上连接有所述受光用跨阻放大器的所述第1输入端子；

平滑电路，在输入端子上连接有所述反馈用误差放大器的输出端子；

反馈用晶体管，在控制端子上连接有所述平滑电路的输出端子，在与所述光检测元件相连接的端子上连接有所述受光用跨阻放大器的所述第1输入端子。

4.如权利要求2所述的光检测电路，其特征在于，

所述受光用跨阻放大器包括：

受光用运算放大器，在作为所述受光用跨阻放大器的所述第1输入端子的第1输入端子上连接有所述光检测元件，在第2输入端子上连接有所述受光用基准电压；

第1受光用反馈电阻，连接在作为所述受光用跨阻放大器的所述输出端子的所述受光用运算放大器的输出端子与所述受光用运算放大器的所述第1输入端子之间。

5.如权利要求3所述的光检测电路，其特征在于，

所述受光用跨阻放大器包括：

受光用晶体管，在作为所述受光用跨阻放大器的所述第1输入端子的控制端子上连接有所述光检测元件；

电流控制电阻，连接在作为所述受光用跨阻放大器的所述输出端子的所述受光用晶体管的输出端子与固定电位之间；

第2受光用反馈电阻，连接在所述受光用晶体管的所述输出端子与所述受光用晶体管的所述控制端子之间。

6.如权利要求5所述的光检测电路，其特征在于，

所述反馈用误差放大器的所述第2输入端子，与所述受光用晶体管的所述控制端子相连接。

7.如权利要求2所述的光检测电路，其特征在于，

所述反馈用误差放大器包括：

第1误差放大用晶体管，在所述受光用跨阻放大器的所述输出端子上连接有控制端子；

第2误差放大用晶体管，在控制端子上输入有所述受光用基准电压；

第1误差放大用负载，与所述第1误差放大用晶体管的输出端子相连接；

第2误差放大用负载，与所述第2误差放大用晶体管的输出端子相连接；

误差放大用电流源，与所述第1误差放大用晶体管和所述第2误差放大用晶体管的共同节点相连接，

所述平滑电路为连接在所述输入端子与所述输出端子之间的电容器。

8.如权利要求1所述的光检测电路，其特征在于，

所述跨导放大器包括：

第1变换用晶体管，在所述受光用跨阻放大器的所述输出端子上连接有控制端子；

第2变换用晶体管，在控制端子上输入有变换用基准电压；

第1变换用负载，与所述第1变换用晶体管的输出端子相连接；

第2变换用负载，与所述第2变换用晶体管的输出端子相连接；

变换用电流源，与所述第1变换用晶体管和所述第2变换用晶体管的共同节点相连接。